用恒温台加热闪存检测数据可靠性, 可行吗?

sumandigit · 发表于 2024-5-15 16:53:04

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买了10片64GB的Intel HET MLC闪存, 用IS903测试架测试, urwtest_v18跑圈没问题都通过.

用恒温台180度加热了5个小时后, 再用urwtest_v18校验数据, 只有两片是通过的, 而且速度慢了很多. 其它剩下的都不通过, 有一片数据全没了要重新量产.

用恒温台加热闪存检测数据可靠性, 可行吗?

拿糖糖换媳妇 · 发表于 2024-5-15 17:12:06

本帖最后由拿糖糖换媳妇于 2024-5-15 17:22 编辑

温度太高了+时间太久了，过不了很正常

以模拟28℃环境下数据不刷新存放10年。180摄氏度老化大致为0.06小时左右，具体根据闪存规格书会有微调整。建议用100℃作为老化温度，对应24.57小时，最高使用的温度最好不要超格130℃