如何测试颗粒的寿命

fanallen

其实很多人把开卡想的太简单，以为只要开出来了，就能使用了，其实不然。

首先原盘坏掉，肯定是有原因的，如果是硬件原因（电容，电阻，电感，供电IC等），还是比较好解决的，换同规格的小料就可以。

如果是软件层面的原因，比如掉固件了，就比较麻烦了。

闪存颗粒的品质是决定一块盘能否稳定使用的决定因素之一，如果因为掉固件坏掉，就需要考虑，是否是因为闪存有新增坏块，不稳定块，或者漏电块等。

而开卡要实现的结果，就是屏蔽这些影响固态可靠性稳定性的新增坏块，不稳定块，或者漏电块。跑RDT是个有效的途径，对于不同主控和不同制程闪存的搭配，RDT怎么设置，比如设置ecc多少位，跑几圈等等，又是有讲究的，总之，几句话说不清楚，有兴趣的话，慢慢学习摸索吧。