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[SMI] 2246XT跑RDT问题求解,8CE片子出来16CE。

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发表于 2019-12-31 13:21:04 | 显示全部楼层 |阅读模式

收来的一个【坏固态】,2246XT小主控,搭配镁光NW660,单颗2Tb颗粒,bga272封装,板子是双贴但只贴了一颗。
原盘能用,但是跑圈有区块校验不过,打算重新开卡。

问题一:46XT没有直接这颗粒参数,只有同ID的64GB和128GB的参数,直接重新开卡,报错——坏块太多;此基本可以忽略。

问题二:坏块多那么就跑RDT吧,设置如图三,但是无论我ECC设定多少,跑出来的结果基本都是一样的,坏块过千。但是问题奇怪的是,图四中,红框这显示的是不是等于有16个CE?4个通道每个通道4CE?然而这NW660只有8CE(图二是软件识别到的CE分布状态),为何跑出来的RDT结果会有16CE?

有大神遇到过相同的问题么?


问题三:由于工具里没有256GB的参数,自己根据64和128参数上的差异,和结合其他颗粒参数的差异,修改了一组参数,但是无论是正常开卡,还是跑RDT,结果都和使用64/128的参数是一样的。

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 楼主| 发表于 2019-12-31 16:52:22 | 显示全部楼层
技术宅小唐 发表于 2019-12-31 15:51
坏块多还跑RDT???这是什么操作?RDT的目的是什么你搞清楚没有?

本来闪存内的坏块没超过阈值能开过,你 ...

请教一下,闪存跑过RDT之后,这些结果是会被直接记录到闪存当中么?成为“标记坏块”?
因为开卡软件跑出来的RDT结果只有在第一次接上时候能读取,再次就“消失”了,给我的主观感受是RDT结果仅仅呈现在当次跑的,不会被写入闪存当中啊?
那如果不被写入闪存当中,那么开卡一次就应该是清空了除原厂标记外的其它标记坏块啊,这样RDT跑出来的坏块是不会有累加的啊。
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 楼主| 发表于 2020-1-6 16:22:26 | 显示全部楼层
本帖最后由 jackieyanni 于 2020-1-6 16:52 编辑
技术宅小唐 发表于 2020-1-6 01:49
RDT的结果存放于闪存,实际RDT的结果只要不重载ISP 不清闪存都会在、

现实情况是46XT量产会读取原厂+新 ...

谢谢指教,十分感谢。:handshake:

有个问题,我有个46xt的U盘,跑RDT,ECC=20,结果正常,坏块显示都是40以内,加载RDT开卡也正常;但是一跑圈,还是有数据错误,貌似RDT未能把这些有问题的区块识别出来?
介绍一下前提:原来该U盘是一切正常的,由于显示信息是“别人的”,就重新开卡,修改显示信息,但是这一开卡就出现上述问题了。原盘是双贴,任意一片单帖都能直接开卡而且跑圈正常,但是双贴就不行;此外,原盘是用Q0707A开的,开始找不到该版本,一直以为是Q0405A的问题,但是后来【获取到】Q0707A版本,但是问题一样。
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 楼主| 发表于 2020-1-14 11:04:55 | 显示全部楼层
技术宅小唐 发表于 2020-1-6 01:49
RDT的结果存放于闪存,实际RDT的结果只要不重载ISP 不清闪存都会在、

现实情况是46XT量产会读取原厂+新 ...

这个贴解决了,小唐的说法是对的,XT的RDT结果是存闪存上的,我从新拆片上架清空,再贴再跑就正常了。
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 楼主| 发表于 2020-1-14 11:12:19 | 显示全部楼层
jackieyanni 发表于 2020-1-6 16:22
谢谢指教,十分感谢。

有个问题,我有个46xt的U盘,跑RDT,ECC=20,结果正常,坏块显示都是40 ...

跑圈的问题也解决了,原来是其中一片闪存的热稳定性不好,只要写入温度控制在100以内,就没问题了。
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