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收来的一个【坏固态】,2246XT小主控,搭配镁光NW660,单颗2Tb颗粒,bga272封装,板子是双贴但只贴了一颗。
原盘能用,但是跑圈有区块校验不过,打算重新开卡。
问题一:46XT没有直接这颗粒参数,只有同ID的64GB和128GB的参数,直接重新开卡,报错——坏块太多;此基本可以忽略。
问题二:坏块多那么就跑RDT吧,设置如图三,但是无论我ECC设定多少,跑出来的结果基本都是一样的,坏块过千。但是问题奇怪的是,图四中,红框这显示的是不是等于有16个CE?4个通道每个通道4CE?然而这NW660只有8CE(图二是软件识别到的CE分布状态),为何跑出来的RDT结果会有16CE?
有大神遇到过相同的问题么?
问题三:由于工具里没有256GB的参数,自己根据64和128参数上的差异,和结合其他颗粒参数的差异,修改了一组参数,但是无论是正常开卡,还是跑RDT,结果都和使用64/128的参数是一样的。
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