如何测试颗粒的寿命

拿糖糖换媳妇

只能测稳定与不稳定，测不了闪存被用了多少pe。像挖过矿的清零盘，是测试不出来区别的，但肯定要比同款未挖过矿的更容易坏。最近的大容量闪存直接不碰了，不比黑片强多少。

写入掉盘且smart中没有坏块方面的报错的话，考虑供电、虚焊、微短路、缓存芯片有错误。
跑圈通过但用一段时间后有坏块出现，为闪存不稳定，须跑高温老化筛除不稳定块，不能直接跑rdt
开卡后第一次测试就有校验错误的，可直接跑rdt解决
c7错误也会导致跑校验掉盘，考虑供电、sata数据线不良、板子设计不良

这个板子的电感损坏程度，也有比较大的影响