SMI慧荣开卡时跑RDT 一些被忽略的小参数选型说明参考

kmmai · 发表于 2025-9-24 22:55:28

SMI开卡时跑RDT一些被忽略的小参数选型说明也是用其他品牌主控有同样小参数说明参考

很多人开卡跑RDT硬盘直接选择默认其实根据情况做选择调整才更佳~
设定小参数为下图大多其他品牌也有名称一样的小参数
同时也请教各位数码之家的大佬普通开卡时下面3个选型一般根据硬盘状况如何来选，希望各位大佬回帖受教传授心得~

0. Reference Original Bad （参考原始坏块）
1. Don’t Reference Original Bad （不要参考原始坏块）
2. reference run time bad （参考运行时错误）

1. Delay 30 minutes to read check（延迟 30 分钟后执行读取检查）
核心作用：模拟 “数据保留测试”（Data Retention Test），验证闪存颗粒在静置一段时间后的数据稳定性。
原理：闪存颗粒存储数据时，电荷可能随时间泄漏（尤其是劣质颗粒），导致数据丢失。该选项会在 “写入测试数据” 后等待 30 分钟，再执行读取检查，以此筛选出 “短期数据保留能力差” 的颗粒（如静置后数据出错的块会被标记为不良块）。
应用场景：常用于对数据可靠性要求高的场景（如企业级 SSD），确保颗粒在断电静置后仍能保留数据。

2. Pre-check good block quantity（预检查好块数量）
核心作用：在正式 RDT 测试前，先快速统计闪存的 “初始好块数量”，作为筛选颗粒的第一道门槛。
原理：闪存出厂时存在一定比例的坏块（允许范围内），但如果初始好块数量低于设定阈值（如低于总容量的 90%），说明颗粒体质较差，无需进行后续耗时的读写测试，直接判定为不合格。
作用：提高测试效率，避免对明显劣质的颗粒浪费测试时间。

3. Erase soon after read check（读取检查后立即执行擦除）
核心作用：清理测试数据，为后续流程（如二次测试、量产初始化）准备 “干净” 的闪存空间。
原理：RDT 测试会向闪存写入特定测试数据（如全 0、全 1、随机数），读取检查完成后，这些数据会残留于闪存中。立即擦除可清除残留数据，避免影响后续操作（如坏块标记、固件写入），同时验证闪存的擦除功能是否正常（擦除失败的块会被标记为不良）。
注意：若关闭此选项，残留的测试数据可能导致后续量产时 “块状态识别错误”（如误判为已使用块）。

总结
这三个选项共同服务于 RDT 的核心目标 ——筛选稳定可靠的闪存颗粒：
延迟读取检查确保 “数据保留能力”；
预检查好块数量快速淘汰劣质颗粒；
读取后立即擦除保证测试流程的连贯性和准确性。
在实际设置中，需根据颗粒类型（如 TLC/QLC）、产品定位（消费级 / 工业级）调整：例如工业级设备需启用延迟读取检查，而消费级设备可适当简化流程以提高量产效率。