请教sf2281方案的ssd如何有效隔离坏块？

asdpjja · 发表于 2019-5-15 19:23:02

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之前在各位大神指点下，把手头的金士顿kc300 120G（sf2281 vb4）给救了回来，但是用了一段时间，
发现卡顿的厉害，smart里的重映射值直线上升，跑urwtest也不通过，估计是坏块的问题比较严重，
所以想请教各位以下几个问题：

1、是否会因为开卡固件使用错误而导致出现大量坏块？因为我这个盘是原厂，单位批量买的，而且
使用的并不多，按理说不应该坏的这么厉害。而且开卡的时候，曾经试过多个id的固件，15nm、19nm
的都有，也都能成功，这让我感觉有点奇怪，总怀疑是不是固件有问题；

2、我在用不同ID固件开卡时发现，每次pass后，显示的出厂坏块列表都是不同的，有些300多、有些700多，
按理说，出厂坏块应该只和flash片子有关，没理由换个固件就会有这么大差异，感觉开卡时似乎没有真正
进行出厂坏块扫描；而且同一版本的固件，多次开卡后这个数值也是完全不变的，这也不合理吧；

3、sf 2281这个方案，有没有重建工厂坏块或者增长坏块的工具？在开卡时把能发现的坏块都放进去，应该
多少能改善卡顿的问题吧；

感谢指点！

以下是开卡工具SF_Genesis的log文件中的出厂坏块列表：
<TEXT_MANUFACTURING_DEFECT_LIST>
~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~
Manufacturing Defect List For Device: /dev/sg2
~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~
~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~
Index Bus    Chip Enable Die    Plane Block Lane Defects
~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~
   0       0       1             0       0       1025    4       1
   1       0       0             0       0       1028    4       1
   2       0       0             0       1       1049    2       1
   3       0       0             0       0       1051    2       1
   4       1       0             0       1       1056    4       1
   5       0       0             0       1       1061    3       2

............................................................................
318    1       1             0       0       1015    1       1
   319    1       1             0       0       1016    1       1
~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~
Total Number of Manufacturing Defects: 371
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zanezhang · 发表于 2019-5-16 00:50:10

记开卡工具好像有个TEST FLASH的

zb300111 · 发表于 2019-5-16 22:12:14

降下容试一下，看看有好转不，我的降了好多了。

asdpjja · 发表于 2019-5-16 23:36:53

zanezhang 发表于 2019-5-16 00:50
记开卡工具好像有个TEST FLASH的

我试过，不知道是不是操作错误，竟然每次只能测试一个块，我再看看说明去

asdpjja · 发表于 2019-5-16 23:38:04

zb300111 发表于 2019-5-16 22:12
降下容试一下，看看有好转不，我的降了好多了。

实在没办法就只能这样了，我降了15G后，似乎坏块增长的稍微好些了

asdpjja · 发表于 2019-5-16 23:39:47

zanezhang 发表于 2019-5-16 00:50
记开卡工具好像有个TEST FLASH的

不过，就算能test，也应该不能把坏块加到出厂记录里吧，那不是和普通测试工具一样了？

fangyinghh · 发表于 2019-5-17 00:27:28

本帖最后由 fangyinghh 于 2019-5-17 00:29 编辑

不同的id，固件ecc位数不同，比如老制程L85的，固件有24bit ecc和29bit ecc之分，同样的盘开出来，ecc位数高的，出厂坏块肯定少点，但是后期不稳定因素多点，L95制程的ecc有33bit和49bit的。
开卡完成，跑第一圈测试，判断坏块在哪一块闪存，然后以3、4、6片组合降容开卡，避开坏片，这是一个方案；
开卡时，手动指定lba数值为少一些的，降低容量，跑圈多几次，也可以屏蔽坏块