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查看: 2826|回复: 47

给大家介绍下晶圆测试,带你了解芯片是怎样制成的

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发表于 2020-7-24 01:38:22 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本人从事晶圆测试和成品测试。由于测试机资源(256通道)限制只是测一些稍简单的数字芯片(如单片机,逻辑芯片等)和小电压小电流的模拟芯片(30V/1A)。

主流6寸8寸晶圆,还有12寸的我们机台上不了

主流6寸8寸晶圆,还有12寸的我们机台上不了

主流6寸8寸晶圆,还有12寸的我们机台上不了


探针台:东京精密UF200A晶圆探针测试机

探针台

探针台


测试用的针卡

测试用的针卡

测试用的针卡


探针

探针

探针


与头发丝对比的探针

与头发丝对比的探针

与头发丝对比的探针


上片方式1

上片方式1

上片方式1


上片方式2

上片方式2

上片方式2


一个批次的晶圆通常是25片

一个批次的晶圆通常是25片

一个批次的晶圆通常是25片


机台CCD下看到的晶粒

机台CCD下看到的晶粒

机台CCD下看到的晶粒


50倍显微镜下的晶粒

50倍显微镜下的晶粒

50倍显微镜下的晶粒


100倍显微镜下的晶粒

100倍显微镜下的晶粒

100倍显微镜下的晶粒


200倍显微镜下的晶粒

200倍显微镜下的晶粒

200倍显微镜下的晶粒


400倍显微镜下的晶粒

400倍显微镜下的晶粒

400倍显微镜下的晶粒


晶圆背面

晶圆背面

晶圆背面


探针台上测试

探针台上测试

探针台上测试


探针测试

探针测试

探针测试


测试结果MAP图

测试结果MAP图

测试结果MAP图


测试完成后坏品打墨点

测试完成后坏品打墨点

测试完成后坏品打墨点



打赏

参与人数 12M币 +112 收起 理由
garyjohnson + 2 这种东西难得一见
edongpc + 9
小黑怪 + 12 謝謝分享
火云邪神 + 5 希望共享更多资料给坛友开开眼界。.
cala4a5a7a0a + 3 需要更多你们这样的人才
aping365 + 10
无可奈何 + 5 謝謝分享
xiaoqi233 + 8 中国需要更多你们这样的人才和企业.
qrut + 10
zzy_85569381 + 20 謝謝分享

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发表于 2020-7-24 06:23:22 | 显示全部楼层
你这是用什么手机拍的,还可以呀。
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发表于 2020-7-24 07:02:45 | 显示全部楼层
想象一下那一叠晶圆碰倒掉在地上的情形 。。。。。。
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发表于 2020-7-24 07:05:29 | 显示全部楼层
这些设备太精密啦。难得一见!
谢谢分享!
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发表于 2020-7-24 07:07:26 | 显示全部楼层
真是技术活
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发表于 2020-7-24 07:45:30 | 显示全部楼层
这个还真的是第一次见啊
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发表于 2020-7-24 08:29:14 来自手机浏览器 | 显示全部楼层
大开眼界,难得一见
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发表于 2020-7-24 08:36:25 | 显示全部楼层
那些探针怎么磨的,更好奇,这个测试架得好多钱
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发表于 2020-7-24 09:25:49 | 显示全部楼层
不用说了,探针肯定是金做的
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发表于 2020-7-24 09:32:39 | 显示全部楼层
哇,都是一个一个单片机呀
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发表于 2020-7-24 09:38:36 | 显示全部楼层
强大中国需要更多你们这样的人才和企业
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发表于 2020-7-24 09:48:03 | 显示全部楼层
solarshen666 发表于 2020-7-24 09:25
不用说了,探针肯定是金做的

金不行,太软不耐磨。
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发表于 2020-7-24 09:50:01 | 显示全部楼层
xiaoqi233 发表于 2020-7-24 09:38
强大中国需要更多你们这样的人才和企业

现在全世界芯片封测大部分都是在中国做的。主要是因为劳动力成本的问题,相对半导体生产的其他工序这个工序需要的劳动力很多。
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发表于 2020-7-24 09:50:18 | 显示全部楼层
hongo 发表于 2020-7-24 09:48
金不行,太软不耐磨。

那就是镀金的啦,不是纯金
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发表于 2020-7-24 11:13:29 | 显示全部楼层
厉害了,这才是真正地高技术
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发表于 2020-7-24 11:28:15 | 显示全部楼层
TOTAL 7288
FAIL 116
不良率1.6%, 这个不良率处在什么水平?
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发表于 2020-7-24 11:45:12 | 显示全部楼层
探针一次测试一颗芯片还是一次测试多颗?一颗一颗来测试岂不是很慢?
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发表于 2020-7-24 19:20:56 | 显示全部楼层
第一次感觉这么近距离的看到晶园,感谢楼主的分享
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 楼主| 发表于 2020-7-24 20:13:40 来自手机浏览器 | 显示全部楼层
小陆 发表于 2020-7-24 11:45
探针一次测试一颗芯片还是一次测试多颗?一颗一颗来测试岂不是很慢?

可以测多颗,多颗测试要看测试机的资源够不够分配。因为测试中对应测试PAD点要给相应的电压电流信号并能测试到相应值。
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发表于 2020-7-25 02:03:07 | 显示全部楼层
看测试结果 合格率很高啊
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