慧荣SM2246EN开卡开卡显示：Chk PreTest Fail(31) /0x10,TrainADJRCmdQHalt,CH=1, CE=0解决...

lixiongchao · 发表于 2020-10-28 23:22:40

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主板采用的是16贴TSOP48固态主板，慧荣2246EN主控，芯片采用的是闪迪SDTNPMCGEM-32G-C ，芯片ID为：45,3A,A5,82,7A,56 单颗2CE MLC颗粒
正反图如下：

留心的朋友应该看出来这个芯片ID对应的是东芝TH58TEG8D2HTA(2/K)0，刚好在2246EN工具参数内查看到有参数TH58TEG8D2HTA(2/K)0=98,3A,A5,82,7A,56,2,08,10,0,0,0,2,9,3,0,0,0,640,3,68,8F,27,100,2,08,0,0,0,0,1,52,51,0,0,0,0,0,0,80,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,0,〗,,
98改成45添加参数后发现量产工具无法直接识别到型号，才发现次参数并非2246EN用的，位数不足（为什么被放在46EN工具内在下也不知）
既然我们知道闪迪ID为45,3A,A5,82,7A,56（56属于非TG系），于是直接搜索东芝颗粒对应的土狗芯片得到下面参数：TH58TEG9D2HBAx9=98,3A,A5,82,7A,D6,2,08,10,0,4036,4096,2,9,3,256,2,8,640,3,68,8F,27,30,2,5F,2,1,1,2,1,52,51,0,A2,0,1,0,0,80,88,88,88,88,0E,26,88,88,66,66,66,66,82,0,〗,,
直接改成闪迪SDTNPMCGEM-32G-C=45,3A,A5,82,7A,56,2,08,10,0,4036,4096,2,9,3,256,2,8,640,3,68,8F,27,30,2,5F,2,1,1,2,1,52,51,0,A2,0,1,0,0,80,88,88,88,88,0E,26,88,88,66,66,66,66,82,0,〗,,
首先我贴了4颗

SDTNPMCGEM-32G-C做成128G，很顺利一次OK

于是直接贴16颗，焊接完毕后检测CE也正常，共32CE。结果开卡提示：示：Chk PreTest Fail(31) /0x10,TrainADJRCmdQHalt,CH=1, CE=0

根据提示我首先想到的就是第一通道的CE0出问题了。于是我拿出曾经的归纳图出来：
科普特.jpg

通过图可以知道是U16颗粒这里问题，于是加焊，问题依旧。直接更换这颗颗粒，
问题还是依旧。我有点慌了。
。。。。。。。
既然不是芯片问题，那会不会是主控下对应这颗芯片的点位出问题了？抱着这个思想我又换了主控，结果还是依旧。后来又尝试过关闭内部交错，也是无用

这里我一直忽略了一个地方，就是芯片参数！！因为我前面用这个参数开四贴128G时轻松通过，跑圈也无问题。所以一直没怀疑参数问题。
于是直接将芯片倒数第10位的0E改成16，也就是

SDTNPMCGEM-32G-C=45,3A,A5,82,7A,56,2,08,10,0,4036,4096,2,9,3,256,2,8,640,3,68,8F,27,30,2,5F,2,1,1,2,1,52,51,0,A2,0,1,0,0,80,88,88,88,88,16,26,88,88,66,66,66,66,82,0,〗,,

开卡一次通过

绕了一大圈，

花费3个多小时终于完结。
本人淘宝店名：南翔科技。主营SSD芯片，SSD板料， U盘等板材。如需要可以进店选购。
交流学习，可以添加本人微信：X18088075685 大家一起交流学习、添加时务必说明哪里过来的，否则不允通过。
感谢大家观看。

zhuyimin · 发表于 2020-10-28 23:40:00

BAD=155，坏块真不少。跑分几何？

fanallen · 发表于 2020-10-29 00:56:30

南翔是你的店啊？隐藏得够深的啊:lol:

lzhq0071 · 发表于 2020-10-29 01:51:01

好帖，但是有个疑问是倒数第十是SDR模式下的频率吧，原本是0E改成16为什么就能通过了呢，这不应该是增加了频率吗，不是更容易报ADJ吗。

难道该数值越大反而频率越低吗？

lixiongchao · 发表于 2020-10-29 03:09:15

容量是512G，16贴32G。平均下来一颗芯片不到10坏块。很可以了

lixiongchao · 发表于 2020-10-29 03:10:36

我平时很少逛数码之家

sattr1 · 发表于 2020-10-29 07:02:12

又是一位大佬:dizzy:这操作6

zhuyimin · 发表于 2020-10-29 13:35:01

2246en坏块数不是总数，是单CE/DIE的最大数。2246en是并行读写CE/DIE，所以某个CE/DIE坏块过多并不会向其他CE/DIE拆借容量。开卡的时候读取闪存坏块，以最多坏块数CE/DIE做最差标准，所有CE/DIE一起按照最差标准扣除块数，保证所有CE/DIE有相同可用容量。所以二手闪存贴SSD一定要剔除单DIE坏块过多的闪存，防止一粒老鼠屎坏一锅粥。

lixiongchao · 发表于 2020-10-30 00:52:49

牛叉，这解释专业，学习到了:lol:

likan83 · 发表于 2020-11-1 21:24:30

这样怼大佬真的好吗！！！:lol:

likan83 · 发表于 2020-11-4 11:05:16

老板的货非常好！！！

g_17_b · 发表于 2020-11-4 11:22:37

大佬，请问慧荣的CE/DIE的坏块数如何获得？再就是用安国银灿清空读坏块得到百分比能否作为判断依据？

kkklove · 发表于 2021-3-24 03:07:50

就是太麻烦，要有清空座一个个试吧

争锋麦芒 · 发表于 2021-5-16 22:12:49

难怪上天有个颗粒单ce坏块过多，双贴怎么都开不了大容量，原来如此，我还以为是颗粒问题，颗粒位置调整了好几次都不行，原来是这样啊

XPR123 · 发表于 2021-5-17 00:59:31

南翔是你的店啊？隐藏得够深的啊

XPR123 · 发表于 2021-5-17 01:00:19

南翔是你的店啊？隐藏得够深的啊

chen2181732 · 发表于 2022-1-5 18:40:46

我的是在调试里面 Erase All 一下就OK

527945545 · 发表于 2022-1-5 19:42:07

颗粒上板子前还是清空复位一下

walkingsk · 发表于 2023-4-16 22:25:01

不同主控测试架，测得的坏块标准
应该无法通用吧

mike1820zxw · 发表于 2023-5-9 10:04:50

看样子我的盘放弃吧，根本看不懂啊

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