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前段时间黄鱼上看见一个512G U盘,价格感觉不错,于是340包邮入手了它。
到手玩了2天,第一是感觉热,插在U口上待机40度,第二是不能容忍的,那就是掉盘,跑测试掉盘,不跑也掉盘(反复插入弹出),很难稳定下来。换过几台电脑都是这样。
因为之前没有玩过SSD开卡,一度认为这种固态U盘就是这样的,本来想退货,但想想只要颗粒没有问题,看在便宜的份上忍了自己研究研究。结果我的总结是比自己买套料来做麻烦多了,因为不知道问题在哪里,有可能是虚焊有可能是桥接不稳定,也有可能是主控2246XT或者是两片颗粒中的一片。加焊一番后然并卵。然后开始找量产开卡跑了两遍RDT测试结果相同,而且两次RDT刷的RDT固件都不是一个版本,512G测试时间51分钟多,两次测试用时只相差一两秒钟。看来颗粒稳定性没有问题(主控有问题的可能性也小很多)。各种版本开卡测试无效,刷桥接芯片固件无效。后面做了如下魔改终于算是弄好了,中间有换了更大容量的滤波电容、更换了一个电感,有几点分享如下:
1、没有魔改前待机40度 ,urwtest全盘写入71度,改后待机30度,urwtest未测试。
2、关于掉盘问题我总结是因为电感开裂影响性能导致的,因为开始先换电容并没有彻底解决这个问题。后面把开裂的电感2.2mh换成了10mh的,问题解决。
3、46XT的写入放大并没有网友说的很大的问题。在我的测试数据中启动过十多次WTG,拷贝过大文件,现在看F1和F5数据比例感觉很好。C3 ECC校验拷贝了一个40G文件增加了一两个数值或者不增加,不知道这种情况正不正常。
4、4K读写速度和测试电脑关系很大,比如J3455 和 I5 9500两台电脑4K测试速度会有翻倍的结果。
总结:那一点电感开裂影响了那一路供电的稳定性,从而导致U盘工作不正常,听说19nm 的东芝颗粒费电,我看见很多2246EN的U盘板子,供电IC、电感和滤波电容都比这片46XT小,不知道这个颗粒在这种板上会有什么样的结果?
没有魔改前:
魔改电容电感:
测试数据:
RDT结果
***************************
Serial Number: 2021022500
RDT Result: RDT PASS.
Error Code: 0x00
Execution Time: 00:51:08
Execution Loop: 1
Total Fail Count: 345
Read Fail Count: 0
Erase Fail Count: 345
Program Fail Count: 0
Pretest (Original) Fails: 65 (0)
Max Temperature: 30
-----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
Reference: 0-do RDT to all blocks
Temperature Threshold: 0
ECC Threshold: 20
Erase Fail Threshold: 0
Program Fail Threshold: 0
Read Fail Threshold: 0
Total Fail Count Threshold: 0
Waiting Time Before Read: 0
RDT Loop Base Setting: 1
Test Pattern: Using Random Pattern
-----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
Bad block Number:
[CE0] [CE1] [CE2] [CE3] [CE4] [CE5] [CE6] [CE7]
[CH0] 0x016 0x01A 0x01E 0x017 0x000 0x000 0x000 0x000
[CH1] 0x03F 0x015 0x018 0x026 0x000 0x000 0x000 0x000
[CH2] 0x034 0x00F 0x010 0x012 0x000 0x000 0x000 0x000
[CH3] 0x032 0x018 0x01E 0x010 0x000 0x000 0x000 0x000
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