请教高手：怎样鉴别拆机闪存品质的优劣？挑选品质优良的做ssd

zxc000ly

怎样鉴别拆机闪存品质的优劣？挑选品质优良的做ssd。
1.同型号颗粒，通过903慢扫，或者rdt，选相同ecc数值，比较坏块数量，坏块少的品质更好？
2.逐渐减小ecc数值，如果坏块不出现爆发性增多，还能过量产。哪片闪存能过更小的ecc，哪片的品质更好？
3.903和2246 能容忍的最大坏块数是多少个？超过这一数值就不能量产了
4.903和2246默认情况开卡，分别相当于ecc选多少数值？

技术宅小唐

1，ECC扫描方式只能筛选出新增坏快和高ECC的老化块，实际漏电较快块是扫描不出来的、
简单打个比方：
某些intel的L06B和B16A制程的颗粒，再被拆下后能过2246EN 2258XT的RDT均显示只有原厂坏块无新增，当开卡好写入校验数据后隔10分钟再读取都没有问题、但是当这两个盘静置90天（约30度）和360天(广东气候)，再读取校验数据时，就会看到有数据读取错误，并且B16A制程基本是全红进度条、
然后再重新开卡，写满校验数据，静置10分钟读取结果数据OK，然后放入恒温箱，设定温度150摄氏度，加热并保持150摄氏度48小时，（模拟自然放置2 years的漏电效果）然后降温，温度下降斜率3°/min，当温度下降到30度时，再读取校验数据，此时两个盘都基本都已经不能加载闪存内的ISP，闪存内容基本已经丢失、
2，RDT要在高温环境下做，起码温度3位数，常温下RDT是没什么用的，
3，挑选品质优良的闪存，要原厂才能测、（抓新增坏块这么简单谁不会？抓漏电块才是难度）

futurestar

技术宅小唐 发表于 2019-5-26 10:35
1，ECC扫描方式只能筛选出新增坏快和高ECC的老化块，实际漏电较快块是扫描不出来的、
简单打个比方：
某些i ...

不同厂家的实验方法应该都是不一样的，我们收到厂家的测试报告中，没有使用这么高的模拟温度

我看了下其中一个报告，静止存放是(3). Set the temperature of chamber : 100℃, and the test time is 96Hrs .（设置温度为100摄氏度，模拟放置96个小时）。相当于43度条件下放置3年的效果

不过不管什么实验室，什么设备，什么测试条件，都是实验条件，客户使用条件天南地北，更加复杂。不同的主机设备（如：NB、DT、MobileDevice），不同的供电条件（如：电压高低、纹波）、不同的温度环境、不同的湿度环境等等

还有就是报告里面RDT不是高温条件下，至少不是你说的3位数的高温，这个超出了颗粒正常的工作温度。但是室温到颗粒的极限温度是有可能的，目前报告里面说的是以室温55度，测试1000小时

不过我说的RDT，和我们正常开卡说的RDT是不同的。我们正常的RDT只是为了尽量筛选出有问题的块，厂家的是为了测试颗粒的极限寿命。不过就算个人RDT，也没必要太高温进行

zxc000ly

技术宅小唐 发表于 2019-5-26 10:35
1，ECC扫描方式只能筛选出新增坏快和高ECC的老化块，实际漏电较快块是扫描不出来的、
简单打个比方：
某些i ...

感谢小唐的详细解答

zxc000ly

futurestar 发表于 2019-5-26 10:58
不同厂家的实验方法应该都是不一样的，我们收到厂家的测试报告中，没有使用这么高的模拟温度

我看了下其 ...

谢谢您的专业回复，RDT时颗粒的温度很高80-90度了，我是加个风扇降温

zxc000ly

这样看来，固态硬盘还是买厂家生产的比较放心。

futurestar

zxc000ly 发表于 2019-5-27 21:36
谢谢您的专业回复，RDT时颗粒的温度很高80-90度了，我是加个风扇降温

RDT说的温度是室温，不是颗粒、主控的温度

要达到55度的室温都得实验设备

技术宅小唐

futurestar 发表于 2019-5-26 10:58
不同厂家的实验方法应该都是不一样的，我们收到厂家的测试报告中，没有使用这么高的模拟温度

我看了下其 ...

SF2281老化105度

futurestar

技术宅小唐 发表于 2019-5-27 22:29
SF2281老化105度

企业级SSD才会用这么苛刻的方式来进行，但是同等的测试时间就会反比缩短

对于消费端的SSD，不会用这么高温跑RDT测试的

JESD有测试规范标准，厂商几乎都是按照这些来测试

我们要这些类似的报告都得花钱，默认是不提供的（当然一些简单的报告不需要）。有些时候招投标就是要提供很多报告，得花钱

maithon

厂家测试看来很严格。

hahaboy_007

技术宅小唐 发表于 2019-5-26 10:35
1，ECC扫描方式只能筛选出新增坏快和高ECC的老化块，实际漏电较快块是扫描不出来的、
简单打个比方：
某些i ...

我也发现这个问题，有的盘也只能装满了数据放置半年后做RDT，其实漏电块也很好判断，基本就是那些开卡后降速的块，你想想嘛，开卡后慢扫描有些块都在降速，就说明那片区域启动比其他趋于更高的ECC效验级别，产生更多延时，所以才降速！当这个降速无穷大，不就是漏电完的坏块吗？就像一块充电电池因为老化充不满，放电也不均匀。

所以要判断拆机颗粒谁比较健壮，能慢扫一根直线的是比较健壮的，我通常用hdtune的慢扫，点击速度图，淘到颜色深绿的就欢喜，淘到有点黄的就想办法出掉。

hahaboy_007

futurestar 发表于 2019-5-27 22:00
RDT说的温度是室温，不是颗粒、主控的温度

要达到55度的室温都得实验设备

别人这样做，是以老化的温度换时间（空间换时间），其实你也不用高温，装满数据放置个半年，就会有漏电坏块无法通过主控过滤掉，然后再重新开卡做RDT，基本原理就是该漏电不稳的放电也放了，通过RDT标记过滤。

hahaboy_007

影响SSD品质最大的问题不是坏块多少！而是即将老化成坏块的多少，这其中最不稳的就是漏电块，初期特征就是降速幅度大，或者读写的速度起伏比较大，像锯齿状的多数不妙！！！颗粒漏电是一个慢过程，通过加温其实就是让漏电颗粒加速现原形，就好比一个快要坏的锂电池给高温、或者低温测试就是为了放大它不稳的状态，加以判断它合格不合格。

hahaboy_007

技术宅小唐 发表于 2019-5-27 22:29
SF2281老化105度

我之前就不认为2281的ECC校验能力强就是好事！就像人一样太老了，天天拖进ICU不是插管就是上呼吸机！这样的SSD还有意义吗？见过有些用垃圾颗粒的2281降速到个位M，三天两头掉盘的，而且ECC效验次数是天文数字，这样的SSD就像到死不活地拖着。相反ECC效验粗放的主控，可能把那些到死不活的块标记成尸体块了。所以LDPC看似更“香浓”，但是遇到颗粒老化不行了，就降速得相当痛苦，卡成翔