慧荣2246xt RDT测试 erase fail过高，但可以正常量产，同时urwtest测试3圈没问题

wolfshen55

慧荣2246xt 双贴东芝9DDK  RDT测试 erase fail大于255请问怎么办，我已经尝试过提高ECC到25，颗粒没有经过903清空。如果直接进行开卡是可以正常量产的，并且urwtest测试3圈也是没有问题。

at604759

你这个都改成0应该就是不在乎选项

fanallen

刷入rdt程序的时候，预测一栏选的0还是1？

wolfshen55

fanallen 发表于 2020-6-10 10:46
刷入rdt程序的时候，预测一栏选的0还是1？

请问具体是指的是哪一项，是 write all block then read waiting time 这一项吗，这一项是0，下面的一项是1

at604759

255全部选成不在乎选项

fanallen

这里选1再跑。

wolfshen55

fanallen 发表于 2020-6-10 15:54
这里选1再跑。

请问这一步具体的含义是？可能会有哪些方面的影响呢

wolfshen55

at604759 发表于 2020-6-10 15:37
你这个都改成0应该就是不在乎选项

如果改成0，请问下是扫出来过后，RDT开卡的时候会自动屏蔽掉？

fanallen

wolfshen55 发表于 2020-6-10 16:24
请问这一步具体的含义是？可能会有哪些方面的影响呢

选0测试所有块，选1会跳过pretest过程是检测到的坏块。

at604759

wolfshen55 发表于 2020-6-10 16:28
如果改成0，请问下是扫出来过后，RDT开卡的时候会自动屏蔽掉？

这个含义我也不太清楚，报错是擦除失败过多，个人觉得是坏块过多造成的擦除失败计数过多报错，之前我开东芝9d2h也是这个情况，ecc30多都不行。按照改成0设置成功跑完RDT最后128g跑出了340左右个坏块且跑圈也无问题

at604759

wolfshen55 发表于 2020-6-10 16:28
如果改成0，请问下是扫出来过后，RDT开卡的时候会自动屏蔽掉？

只要能扫出来就能屏蔽掉，不过有的第二次开卡会丢掉坏块

wolfshen55

fanallen 发表于 2020-6-11 13:29
选0测试所有块，选1会跳过pretest过程是检测到的坏块。

意思就是说，选择1的时候，会忽略掉监测到的坏块，同时会减少因为坏块带来的erase fail计数？根据您的方法，我测出来之后，只有55坏块，没有erase fail，是否代表为，之前的erase fail计数都是因为坏块造成的？

wolfshen55

at604759 发表于 2020-6-11 13:43
只要能扫出来就能屏蔽掉，不过有的第二次开卡会丢掉坏块

128G出现353erase fail，这个数据高么？屏蔽了坏块是不是由坏块造成的erase fail计数也会减少？根据楼里另一位大佬的操作，我做出来就没有erase fail了

fanallen

wolfshen55 发表于 2020-6-11 16:41
意思就是说，选择1的时候，会忽略掉监测到的坏块，同时会减少因为坏块带来的erase fail计数？根据您的方 ...

是的     草莓布丁

wolfshen55

at604759 发表于 2020-6-11 13:29
这个含义我也不太清楚，报错是擦除失败过多，个人觉得是坏块过多造成的擦除失败计数过多报错，之前我开东 ...

跑出来的是340个坏块还是，erase fail，然后您这个U盘用了多久了，出现过问题吗

wzq188

fanallen 发表于 2020-6-10 10:46
刷入rdt程序的时候，预测一栏选的0还是1？

刷入rdt程序的时候，预测一栏选的0还是1？    1，不参考原始错误