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[综合] 24C512擦写次数测试

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发表于 2020-7-7 18:43:31 | 显示全部楼层 |阅读模式

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近期在制作一款控制器的主板,主要数据都存在eeprom,对其寿命不太了解,做了块板,用来测试AT24C512的极限擦鞋次数

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 楼主| 发表于 2020-7-7 18:46:41 | 显示全部楼层
123.jpg
已经15W次了,早上9点钟开始,昨天也是15W次,前天5W次,到目前一共35W次,让我看看多久能给他写挂掉
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发表于 2020-7-7 19:51:40 | 显示全部楼层
查 PDF 就行了,这种测试太费时间啦.
AT24C08.png

MC_24C32.png

FM24C256.png


10W(24C256)~100W(AT24C08)
有一个1000W 指的 High Endurance Block 不知道是产品还是产品的特定Block 是高耐受的.





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发表于 2020-7-7 19:58:09 | 显示全部楼层
还有不知道LZ测试是只测试 page 还是整片.
只测试 page 的话估计离散性很大,
整片进行 擦(24C好像不用擦?忘了)-写-读(校验)  是要花费蛮长时间的.

还有数据保存时间在个人也很难给出有意义的测试数据.
你写一个数据能只保存1个月,在 eeprom 应用场景 也算不合格...
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 楼主| 发表于 2020-7-7 20:18:08 | 显示全部楼层
junyee 发表于 2020-7-7 19:58
还有不知道LZ测试是只测试 page 还是整片.
只测试 page 的话估计离散性很大,
整片进行 擦(24C好像不用擦?忘 ...

你好,写数据只能保存一个月,我没太明白,麻烦解释下。。
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 楼主| 发表于 2020-7-7 20:19:17 | 显示全部楼层
junyee 发表于 2020-7-7 19:51
查 PDF 就行了,这种测试太费时间啦.

我看PDF也是100W,。。。你这个1000W我还真没见过,我现在就看看到底能多少次,其实实际使用中五六十万次就够了
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 楼主| 发表于 2020-7-7 20:20:57 | 显示全部楼层
junyee 发表于 2020-7-7 19:58
还有不知道LZ测试是只测试 page 还是整片.
只测试 page 的话估计离散性很大,
整片进行 擦(24C好像不用擦?忘 ...

目前不是正片,诶,eeprom读写速度慢,整片的话,,,要很久,
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发表于 2020-7-8 16:32:41 | 显示全部楼层
1183223454 发表于 2020-7-7 20:18
你好,写数据只能保存一个月,我没太明白,麻烦解释下。。

很简单几乎所有的非易失性存储器的数据保存时间和擦写次数是负相关的。所以这个意思就是,厂家规定的寿命是指在经过一定次数擦写后,写入的数据在特定的保存条件下能够维持的最短时间。所以超过寿命的编程不一定会立即出错,而是可能过一段时间才会出错,所以你测不出来。对于需要短暂留存的数据,哪怕到了寿命也不会有什么影响,因为在数据消失之前就已经更新了。
反正就是,你要一直测试直到立马写入出错,甚至编程失败的次数并不是真实的寿命,远在哪之前,数据的可靠性就已经不能保证了,天晓得今天写进去的数据明天拿来读还对不对,后天呢?
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发表于 2020-8-20 14:37:52 | 显示全部楼层
可以浪费一定的比例空间,搞个均衡算法。:lol:
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