SM2246选对了闪存ID通过了开卡就能用？非也！

animefans_xj · 发表于 2020-9-26 17:17:15

本帖最后由 animefans_xj 于 2020-9-26 20:44 编辑

笔者最近将公司报废的坏笔记本中的2块建兴SSD做了合并，原来一直认为SM2246EN配合全新或写入量极小的原厂正片只需要开卡成功就不会存在问题。但幸好做了一次读写测试，结果出现大量数据错误且读写过程中无任何卡顿，SMART信息也未出现任何错误警示。

下图是合并好的SSD

检查闪存ID没有任何问题

SSD设置时匹配到3个闪存型号，一般认知找到多个型号任选一种即可，一般开卡成功即可安全使用

由于笔者的闪存芯片单颗是32G的，因此选择了H27QEG8UDB8R_1这个型号，做15bit RDT后开卡，不出所料开卡成功

开卡成功后系统正常识别SSD容量，创建分区和格式化均成功，但读写测试报告故障。整个读写过程无任何降速或卡顿。

检查SSD的SMART信息，05、C4和C5项均无报告的故障扇区

百思不得其解，试着更换设置中的闪存芯片型号为H27QDG8D2B8R重新开卡

成功通过读写测试

想来若当时没有做读写测试，那么这块SSD用来存放重要数据将导致重要数据的损毁。
比对了下闪存数据库中这两者的参数，发现确实有少量差异，尽管这两个闪存的ID是相同的。

Hynix,128Gbit (16K page),H27QDG8D2B8R= AD,3A,14,AB,42,4A,2,21,01,0,3994,4096,2,9,5,256,2,16,1664,3,88,8F,27,30,1,0D,31,0,0,2,1,52,51,0,BF,BE,1,0,0,40,88,88,88,88,12,26,88,88,66,66,66,66,0,0,〗,,
Hynix,256Gbit (16K page),H27QEG8UDB8R_1=AD,3A,14,AB,42,4A,2,21,01,0,4092,4096,2,9,5,256,2,16,1664,3,88,8F,27,30,1,0F,31,0,0,2,1,52,51,0,BF,BE,1,0,0,40,88,88,88,88,12,26,88,88,66,66,66,66,0,0,〗,,

复制代码

空板买了2片0DDL和之前手头上剩下的2片0DDL做了一块500G的盘。不过手上的2片是台湾制的已用平均P/E数30以内，而新买的是国内制的。

文/ 穿越蓝天 @ NovVideo / NVACG

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wulishui · 发表于 2020-9-26 17:47:13

一直以来都是选一样的型号不随便选，都跑10圈之后又敲又砸又吹又凉再校验没事才用

zhuyimin · 发表于 2020-9-26 17:53:53

跑RDT结果don't care，等于没跑。跑圈主控记录坏块，开卡参考RUN TIME BAD，之后就没了坏块。或者你试试看用开卡不参考并且跳过原厂坏块，之后跑个圈。

拿糖糖换媳妇 · 发表于 2020-9-26 18:16:12

本帖最后由拿糖糖换媳妇于 2020-9-26 18:26 编辑

zhuyimin 发表于 2020-9-26 17:53
跑RDT结果don't care，等于没跑。跑圈主控记录坏块，开卡参考RUN TIME BAD，之后就没了坏块。或者你试试看 ...

id对能开卡通过确实会有些有问题的，如异步颗粒用同步开，有些同步闪存支持的频率不同，用高频率的也会不稳定，带ddr芯片的有时候参数选错（如256m的选128m开卡，有些就会有问题，有些就没影响）又或者有坏块的ddr也会造成数据出错（专业词汇咱不知道，但意思对就行）

实测don't care是不论数量达到多少均跑完rdt不报错，坏块会记录，但超过一定值开卡时会报错坏块过多。
对于RUN TIME BAD项和参考rdt项，都能记录rdt坏块，区别应该是RUN TIME BAD（原坏块+rdt坏块），参考rdt坏块则仅使用rdt记录的坏块

animefans_xj · 发表于 2020-9-26 18:19:43

本帖最后由 animefans_xj 于 2020-9-26 18:29 编辑

zhuyimin 发表于 2020-9-26 17:53
跑RDT结果don't care，等于没跑。跑圈主控记录坏块，开卡参考RUN TIME BAD，之后就没了坏块。或者你试试看 ...

RDT中 RDT ECC TH 就是标记超过指定位数的块为坏块。而 RDT Fail Threshold 中的设置是指 RDT 扫描到的指定类型的坏块数超过这里的值时判定 RDT Fail 。
实际 RDT Fail Threshold 不指定时依旧会抓出超过 RDT ECC TH 的块。
若 RDT Fail ，则参照 Run Time Bad 或 RDT Bad 时量产会失败。

本例中，按原厂坏块量产坏块为 19 ，按 RDT ECC TH = 15 后参照 Run Time Bad 量产，坏块为29

技术宅小唐 · 发表于 2020-9-26 22:49:11

有啥奇怪的选错参数而已，部分晶圆前后期差异或者供应商不同，最小block数也不同，所以工具给了两个参数你去选，第一次选错了第二次选对了呗就这么简单

kkklove · 发表于 2020-9-27 14:25:20

SKHy的颗粒问题一直很多，上次移植到U盘上，自选固件格式化失败，试了十几个固件才找到能用的，指示灯还失效了。

perter · 发表于 2020-9-27 16:15:58

这就是我既讨厌又喜欢DIY的原因，先说说为什么喜欢，说白了就是因为又穷又矫情，既不想出大价钱有想要自己想要的方案，还想性能不差，这就引出了我反感DIY的理由，首先所谓的DIY无非是两种，一种是自己真·DO IT YOURSELF，什么都选配，还有一种是拜托大神，但是这两种毕竟都是非官方，在没有硬件厂家和软件厂家技术支持的背景下自己鼓捣往往就是能用就行，比较好的还测测高温老化，简陋的测试手段和宽松的成功条件让自己做的SSD后患无穷，我自己也算是做了不下几百个SSD了，已知翻车的就有JCME1和JCME3混贴2245en方案，9EBH+9DBH+2246混贴方案，DIY16*6H2H+2281,1EFL+1DFL双贴混贴方案，16X东芝7DDJ+2281（特科芯全新原盘四个合并成两个），这些盘都是当时能开过但是在随后的三四年，四五年中出现了莫名其妙的问题，比如掉盘，数据挥发，莫名卡顿，ECC狂涨，05,C5暴增之类的问题，除非自用谁也没想到各种奇奇怪的问题会在随后的几年内陆续爆发，有人可能说我做了那么多盘一个两个是中奖，如果太多是我技术不过关，我不否定这种推测，还有人会说什么盘存在这种概率，但是储存产品内的数据价格往往要高于其自身，所以作为有重要数据的穷*，还是小心为妙！