本帖最后由 天使的魔翼 于 2025-2-21 17:34 编辑
小值电阻(续3)
二、测试小电阻存在的问题及解决办法
测试小电阻具有测试其它电阻固有的问题和条件,比如:
1、引线电阻和接触电阻
由于小电阻小,因此引线电阻和接触电阻相对就很大,甚至要大于主电阻,因此不能忽略。解决的办法,就是对于电阻本身采用4线制,这样就从根本上解决了问题,可以完全排除引线电阻和接触电阻的影响。另一方面,在测试电路上也要相应考虑,比如用V/A法、双臂电桥法,都是要与4线电阻配合的。
电流端的引线电阻是无关紧要的,因为不会引发额外的测试误差,电压读数是从Kelvin分压点上引出的。而电压引线在不通过电流的场合下,引线电阻也是没有任何关系的。
描述:4线电阻
2、老化
小值电阻由于有效电阻体的体积必须大,因此就必须做成厚重的方式,这样一来内部的应力难于消除,再加上大体积的电阻难于密封,因此接触外界容易引起变化。除了有自然老化外,发热过大引起的永久性变化也不能忽略。如果电阻全密封,或者制作时材料彻底退火那还是好很多。当然,由于小阻值电阻导体厚重,很难受环境因素影响,因此大部分是不密封的。比如国产的BZ3,1mR和10mR就只是油浸的。
3、发热和功率
小电阻在测试状态下要通过比较大的电流,这样在电阻内部将产生比较大的功率和热量,引起电阻体内部温度升高。而电阻体一般是采用比较粗壮的金属电阻材料,内部很容易受力不均引起机械应力变化,造成温度系数不太好,这样就容易引起漂移。当DCC(见下)在测试对比的过程中,要求电压一致,因此越小的电阻其功率也越大。
在额定电压下,要想通过某个电流,必须有特定的发热,不可避免。
描述:0.01欧内部,使用时要求装油
4、温漂
温度直接影响表现的,功率大就更加剧了温漂。解决的方法就是寻找好的电阻、加强散热限制升温、进行补偿。
5、热电动势
不仅小电阻内部发热比较大,另外在引线电阻、接触电阻中也会发热,容易引起比较大的温度不均匀性。另一方面,小电阻上的电压相对很小,这样热电动势相对讲就很大,因此其影响就更加不能忽视了。
描述:L&N4210粗大的引线以减少热电动势,小引线是电流线!
6、测试仪器
测试仪器要大发生电流、同时要检测低电压。而这两个在高精度的场合下都比较难。
测试方法 1、V-A法
就是让一个已知电流I通过未知电阻R的电流端子,然后通过测量其电压端的电压V,得到电阻:R=V/I。
这种方法是最基本的方法,其实也是最常用的。随后讲到的几种方法,也都可以认为是基与I-V法的。
商品的微欧计,基本都是这种方法。
而I-V法测试小阻值,有三个境界:
境界一:小阻值但不大电流,其实就是纳伏法,非额定输出时测试小电阻,把发热影响限制起来。缺点是需要仪表灵敏度太高
境界二:大电流但不大功率。其实就是采用低压,采用小阻值电阻。同样,对仪器的分辨提出挑战。
境界三:大功率但不大发热。其实就是脉冲电流法。每次测试的时间很短,采几个样就完成,其余时间处于没有功率的场合。
I-V法的特点:简单实用但精度不是很高。
条件:需要有一个短期稳定的恒流源,再加上一个线性和分辨良好的钠伏表。
方法1A:直接测试,如上。这种方法有赖与电流源的准确性。
方法1B:把标准和被比较电阻串联共同通以恒流源,用开关切换观察两个电阻上的不同读数
当然,切换可以是万用表内部的,比如34420A的比例测量功能。
这种方法对电流源的准确性没有要求,只要求短期稳定性。另外,测试不同的电阻,万用表的参考点变化了,因此也与万用表的共模抑制比相关。
描述:V-A法测试原理(方法1.1:直接测试)
测量方法1C,把1欧和0.1欧两个待比较电阻的电流端串联,通以稳定电流(0.1A),把电压引线接到开关转换后再接纳伏表,这样可以快速切换两个电阻的输出电压。
注意: 1、电流引线尽量接触好一些(比如用压片)、压接的紧一些,以便减少接触电阻从而减少接触点发热。
2、一般是体积小的引线端子接电流,原因是电流毕竟不大,同时电流端子有热电动势没有什么关系。而把大体积的端子是电压的,这样能显著均温减少热电动势,毕竟电压端子的热电动势是最重要的。
3、同样原因,开关要用大触点的,而且真正用的时候要放入厚重的铝盒里。
4、测量时要把开关交替接到两个电阻上多次交叉读数,然后计算分别取平均值,这样能显著减少因缓慢变化而引起的漂移,也能减少偶然误差。
5、纳伏表不应换档,这样,在10:1测量时就要求有7位才能保证有1ppm的传递分辨率。
测试方法 2、电桥法
这个是个古老而比较有效的方法,适合中精度的测试小电阻。当然,由于要测试小电阻,电桥必须是带有Kelvin接点的双桥。利用用双桥法基本的解决了电桥的引线电阻和接触的问题,并利用对比得到结果。事实上,电桥是一种“背靠背”的电阻对比之一,对电桥供电电压不太敏感,因为任何电压的变化都同时作用在左右两个桥臂上。
然而,电桥法的缺点是对比精度不高,原因主要是电桥的引线电阻和接触不能精确控制和补偿,另外,辅助电阻和调整电阻也很难兼顾精度与调整的问题。同时,当测试电阻比例是1:10的时候,辅助电阻的1:10的精度也难于提高。另外,由于电桥法的输出电流有限,很多小电阻是在比额定电流小得多的电流下测试的,难免有偏差,适合测试小阻值标准电阻。
如图,粗线为大电流通路。黑色的Ewire是外引线所产生的电压,对测试不产生影响。红色的Ewire是内引线电压,应该尽量压低,因此连接两个电阻之间的引线应尽量缩短。对于Ra = Rx 的1:1对比场合,比较好做,下面给出1:10传递的计算例子。
根据实际测试,即便采用上面小旋钮的接法,0.1Ω和1Ω两个电阻之间用粗短线,可以把这段的总电阻控制在2mΩ之内,也就是说,通以0.1A电流时电压不超过200uV。这样,只要Rm=100Ω,Rn=1kΩ,就可以20k倍于接触电阻,分压误差就可以小于200uv/20k=10nV,可以忽略了。这个Rm和Rn电阻对要求不是很高,能有0.005%的匹配就足够了。 但另一方面,RM和RN的1:10的关系要求很高,可以考虑11只相同的电阻进行串联。若取RM=10k则RN=100k(10个相同的10k串联),此时引线电阻<10mΩ 能保证1ppm,这还是比较容易的。
测试方法 3、DCC电流比较法
假如有两个一样的恒流源,分别接到背靠背的两只电阻上,这样就可以类似电桥那样,通过检测其电压的微小差异,来达到精确的对比的目的。这样就把问题归结到如何精确的产生两个相同的电流的问题上,而这两个电流的绝对值或者少许变动,都对结果影响不大。
目前产生这两个电流的一个最好的方法,就是用磁通平衡法。在一个铁心上绕好圈数相同的两个线圈,通上大小相等、方向相反的电流,这样铁心的总磁通就为零。实际上,一个是主电流、另一个通过灵敏的检测磁通来控制辅电流,来达到主辅相等的目的。
主恒流源流过RX并在Np上产生磁通,但辅恒流源流过RD并在Ns上产生大小相等、方向相反的磁通,使得总磁通为零。一旦这个磁通不为零,就能通过二阶解调器察觉到,然后调节辅恒流源,使得总磁通为零永远成立,这样就使得Ip和Is两个独立的电流严格相等,给背靠背的比较提供了有利条件。
然后,通过把两个电阻的两个下电压端接到一起,就可以在两个上电压端精确的读到电压差,也就直接反应了电阻的差别,这样可以实现直接的1:1的电阻比较。 同样,让Np的圈数是Ns的10倍,就可以在磁通相等的条件下,让Is的电流10倍于Ip,这样在电压相等的条件下,电阻也是10倍关系,即Rs = 10 * Rx,由此完成电阻的10:1的精确传递。 为了能够测试超小电阻,需要DCC能够输出大电流。高联做过其3000A的DCC扩流器广告,4个机柜(上面三个是3×1000A)
国产的,兰斯汀有600A的,当然还可以并联 武汉有更大的,新国标检流计把电流检定范围规定到最大10000A。
测试方法 4、直接对比法
让一个电流通过参考电阻和所有的被测电阻,然后用开关转换测试。
得到两个电压V1和V2,那么就有:
Rsub = Rstd * V1 / V2
实际上,为了测试稳定,需要在测试的转换过程中保持电流不变,因此要求是一个低噪音、短稳好的恒流源。另外,开关也要用Scanner来替代
测试方法 5、换向测试法
由于测试大电流需要尽量压低检流电阻,这样满度压降就低,热电动势越发重要。
测试电阻的仪器,从一开始就有换向的概念,以便抵消热电动势。例如我的9975,换向是自动的;万用表测电阻的真欧姆,也是类似做法。
换向也可以用2×4开关来实现。
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