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2025年3月13日,北京大学彭海琳、邱晨光教授团队在《自然》杂志发表论文,宣布成功研制出全球首个二维全环绕栅极晶体管(2D GAAFET)。实验室数据显示,该技术较台积电3纳米工艺性能提升40%,能效提高10%,为国产半导体技术开辟新路径。
技术突破三大亮点
• 使用新型材料硒氧化铋(Bi₂O₂Se),在原子级厚度下保持优异导电性
• 晶圆级多层堆叠单晶结构突破传统硅基限制
• 全环绕栅极设计有效控制电流泄漏问题
研究团队通过材料创新绕开硅基晶体管物理极限,在超微尺寸下实现更高载流子迁移率。彭教授表示:"这项技术不是对现有工艺的改进,而是换道超车的新尝试。"
产业化仍存挑战
尽管实验室成果亮眼,该技术距离商用还需跨越量产关卡。当前我国极紫外光刻机等设备尚未完全成熟,二维材料的大规模生产仍是难题。业界分析指出,这项突破更多体现在技术储备层面,实际应用可能需等待2026年后相关产业链配套完善。
值得关注的是,二维GAA技术与传统硅基芯片制造设备存在兼容可能。若未来实现技术融合,或将催生混合架构芯片,为突破国际技术封锁提供新思路。(本文实验数据来自《自然》期刊论文)
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