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[慧荣] SM3281主控把TLC/QLC颗粒开卡成SLC模式的一些经验分享

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发表于 2022-4-10 17:35:06 | 显示全部楼层
栅极没有变化,寿命不可能提升,可能是多个栅极一次写入同样的0 或者1 ,哪怕漏一两个电子另外的也能读取,这只是个人猜测,
这里不扯到固件的电压算法和主控的电路电压控制,如果扯到这些就没完没了,每边了!~~~
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发表于 2022-4-11 10:02:04 来自手机浏览器 | 显示全部楼层
cxkdlq 发表于 2022-4-10 18:06
我也觉得,寿命应该没有提升,反而相对下降了,比如原来144g才算1pe,现在写43g就是1pe了,总的pe应该也 ...

这个b站的说法有误,应该是寿命没有变化,数据丢失的概率变小了4倍,会出现典型的slc情况,不能写入数据了,颗粒坏了,但是能读取数据,qlc不是不能用,是英特尔的qlc太烂了,
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发表于 2022-4-11 10:48:58 来自手机浏览器 | 显示全部楼层
cxkdlq 发表于 2022-4-11 10:28
这样啊,学习了

但是这种模拟slc和真正的slc的坏颗粒不能写入能够读取还是不一样,具体我也说不明白,就是真正的slc颗粒,产生了坏块,绝大部分情况下,那个坏块不能写入数据,但是能够读取数据,这就是slc牛x的地方
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发表于 2022-4-11 10:56:37 来自手机浏览器 | 显示全部楼层
想要玩颗粒寿命,还是老老实实玩58xt吧,这个主控是最强悍的,没有之一,王者无敌的存在,算法和电压控制无敌般的存在,主要是看自己怎么想了,58xt的心电图一般人受不了,
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发表于 2022-4-11 17:20:41 | 显示全部楼层
tomyluo 发表于 2022-4-11 16:19
为什么寿命不变?我的理解是,假设tlc有0,1,2,3,4,5,6,7共8个电压等级用来存储数据,开成slc就是 ...

是这样的,存储数据是电子穿过晶体管的绝缘层栅极,通过低电压来判断里面是否有电荷,来判断0 或者1,所以理论上读取不消耗寿命,栅极如果长时间写入变薄了,电子就会漏出来,那就是坏块了,
其实理论上QLC或者TLC的栅极做的足够厚,比SLC颗粒的还要厚,那么寿命比SLC还要长
开成SLC模式,我猜可能是一个块0123写入时候都写成1,4567都写成0,具体我也不是专业人员,
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发表于 2022-4-12 10:11:04 来自手机浏览器 | 显示全部楼层
yukimura_z 发表于 2022-4-12 07:24
我觉得2种可能,第一就是pslc那种,只用0和1,其他的都屏蔽,第二种,正常0写成0,1写成15,,读取的时候 ...

具体我也不懂,都是我个人猜测,不过有一点可以肯定,牛x的主控,也是能提升不少寿命的,群联的那个啥支持ldpc纠错的那个,速度慢的要死3.0的,
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