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[闪存] tlc好坏怎么检测的?这里有熟悉芯片制造过程的朋友么

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发表于 2023-8-22 07:40:21 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 swordshz 于 2023-8-22 07:59 编辑


tlc颗粒好坏,是在芯片封测阶段用专用设备检测么?
tlc的制造,是否也需要用到光刻机呢
 楼主| 发表于 2023-8-22 08:21:50 | 显示全部楼层
msi12 发表于 2023-8-22 08:19
个人猜测:可能是在封装之前测试,也可能是封装后测试

因为封装前直接测试晶圆需要比较高的成本;而封装后 ...

封装是把硅片切割,然后加个外壳么
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 楼主| 发表于 2023-8-23 09:35:15 | 显示全部楼层
技术宅小唐 发表于 2023-8-23 01:09
晶圆下线初测,测die晶圆的可用率,用很细的钨钢飞针初测容量和耗电流,可用率低的直接卖下游让下游自行挑g ...

用很细的钨钢飞针初测容量和耗电流,不封装不切割也能测容量么?
业内所谓的白片是指原厂封装测试但不通过的片子,原厂通过的白片去了哪里呢
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