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msi12 发表于 2023-8-22 08:19 个人猜测:可能是在封装之前测试,也可能是封装后测试 因为封装前直接测试晶圆需要比较高的成本;而封装后 ...
solarshen666 发表于 2023-8-22 08:43 怎么会用不到光刻机,只不过用不到最新的极紫外光刻机罢了,长江存储用的是14nm和12nm,这种级别的光刻机制 ...
技术宅小唐 发表于 2023-8-23 01:09 晶圆下线初测,测die晶圆的可用率,用很细的钨钢飞针初测容量和耗电流,可用率低的直接卖下游让下游自行挑g ...
swordshz 发表于 2023-8-23 09:35 用很细的钨钢飞针初测容量和耗电流,不封装不切割也能测容量么? 业内所谓的白片是指原厂封装测试但不通 ...
lzhq0071 发表于 2023-8-23 12:05 晶圆阶段有CP测试,封装阶段有FT测试 另外所谓白片并不是说都是原厂挑剩下残次品的给下游封装,这都是错误 ...
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