|
找出坏掉的运放和性能不好的运放坏。能测084 358 741 324 5532 4558 四运放 双运放检测,通过对引脚进行更改能测任何运放。
本仪器是利用运算放大器输入的 比较特性设计制作的,利用此仪器能 够快速、准确地判测运放的好坏,用此仪器去挑选购买运算放大器 (包括部分拆机品),效果非常好,电路如附图。
将待测运算放大器 接成比较器结构,当V+>V-时, Vout为正电源状态,接近Vcc,二极 管VD1发光。当V+<V-时,为负电 源状态,接近Vee,二极管VD2发 光。为此,用R1、_.R2设置V+=1/2 (Vcc-Vee)+ =0V (对E点电位)。 R3、R4、Rp组成V-电压偏置电路, 向下调节RP,可使V-<V+,VD1发光; 向上调节RP,可使V->V+,VD2发光。 电阻R5、R6、 C1、C2构成电源分 裂电路,,将9V电源分成2x4.5V,使 Ve =OV即Vdd =+4.5V,Vee=- a4.5V,满足运算放大器双电源应用的要求。 电路中,R7~R14 为输入端串联 电阻,当测试多运算放大器时,若其 中有一运算放大器输入端损坏,不会 影响其他运算放大器的测试。
设计中使用了二个8脚、一个 14脚DIP插座,以方便对通用型单、 双、四运放的测试。注意:插座1测 量单运放,⑦脚接电源正,④脚接电源 负②脚输入负,③脚输入正;⑥脚输 出。插座2测量双运放,⑧脚为电源 正,④脚为电源负,②、⑥脚输入负, ③、⑤脚输入正,①.⑦脚为输出。插座 3测量四运放,④脚为电源正,①脚为 电源负,②、⑥⑨、①③脚输入负,③、. ⑤、①⑨、①②脚输入正,①、⑦、⑧、④脚为 输出。
R5、R6应尽可能相等,以确保 为虚地,由于是电源裂变电阻又是发 光二极管的限流电阻,可在2002~5109间选择。阻值小, 发光强、耗电大:阻值 大,发光弱、不易观察。 R1、R2、R3、R4应尽 可能相等,以保证偏置 为“地”, 阻值在10kQ~ 100k中间选择。
RP为同数量级的线 性电位器,在中间做一 个刻度线,以便调节。 VD1~VD8选择异色发光 二极管,以便于区分。 测量前,关掉电源,插入待测集成电路,注意管脚位置不要 插反,然后接通电源,调节RP,并 根据发光管状态判断运放的好坏。测 试完后断电,取下集成电路。注意: 不能带电插拔集成电路以免损坏芯 片。
使用时,将被测单运放插入插座
1,接通电源,向下调节RP, VD1发
光;向.上调节RP,VD2发光;当RP
处在中间位置时,输出为零,VD1、
VD2发微光。在进行双运放测试时,
把被测运放插入插座2,向下调节
RP,VD1、VD3发光;向上调节RP, VD2、VD4发光。在对四运放进行测试 时,将被测运放插入插座3,向下调节 RP,VD1、VD3、VD5、VD7发光;向上 调节RP ,VD2、VD4、VD6、VD8发光。
测试时不必寻找中点,只要观察发
光管的变化状态,就能判断比较特
;性的优劣。对于多运放的测试,应
当慢慢调节RP,以便通过观察发光
二极管的亮度及亮灭时间来判断其
多个运放的一致特性。如果在测试 中调节RP时只有一种状态,而无 变化,说明该运放已失去比较特性, 不能使用。
我们用此仪器对单运放LM741、 NE5534,双运放 LM358、MC1458、TL082,四运 放LM324、TL084进行了测 试,效果十分理想,特别是对拆机元件 进行筛选,非常有用。 |
本帖子中包含更多资源
您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?立即注册
x
打赏
-
查看全部打赏
|