大家好! 你是不是也和我一样,总在纠结手里的哪根快充线才是“真材实料”?常规的操作是购买USB表(最低50元),还需要搭配四线开尔文转接板(成本20多元)才能测量。 今天,我就来分享一个“发烧友”级别的玩法,充分利用自己手里的设备,减少投入。通过搭建一个简单的测试平台,结合专业的四线内阻仪,对我们的Type-C线缆进行一次精准到毫欧(mΩ)的“体检”! 原理简介:为什么四线法(也叫开尔文测量法)测更准?四线法(也叫开尔文测量法),则巧妙地将“供电”和“测量”的通路完全分开了: - 两根电流线(I+ / I-):负责给线缆施加一个精确的恒定电流。
- 两根电压线(V+ / V-):直接在线缆的两端测量电压降,由于电压表内阻极高,这条通路上几乎没有电流,因此彻底排除了接触电阻和引线电阻带来的干扰。
我们测得的,就是线缆本体最纯粹的电阻值! 准备工作:你需要这些工具
- 也叫毫欧计、微欧计。常见的入门型号有YR1030/YR1035+等,丰俭由人。它会附带专用的开尔文夹或探针。
- 关键配件:Type-C 转接板 (Breakout Board)
- 至少需要两个,用于将Type-C线缆两端的接口引出为一个个独立的焊盘或插针。推荐使用一公一母的组合,或者两个母座的组合。
实战操作步骤(以测量VBUS电源线为例) 对于充电性能来说,VBUS(电源正极)和 GND(接地)这两条线的内阻是最关键的。我们以来VBUS为例进行演示。 第一步:搭建测试平台 将你的Type-C线缆的两端,分别牢固地插入到两个Type-C转接板上。 第二步:连接内阻仪 拿出内阻仪的开尔文夹(每个夹子都有两个独立的接触点,这就是四线法的精髓)。 - A端连接:在线缆一头的转接板上,找到引出的 VBUS 焊盘。将内阻仪的一个开尔文夹夹住该焊盘,确保夹子的两个触点(分别对应I+和V+)都与VBUS焊盘良好接触。
- B端连接:在线缆另一头的转接板上,同样找到引出的 VBUS 焊盘。将内阻仪的另一个开尔文夹夹住该焊盘,确保两个触点(对应I-和V-)也接触良好。
第三步:读取并记录数据 稳定接触后,观察内阻仪上的读数。这个数值就是这条Type-C线缆从A头到B头的 VBUS 线路的精确内阻值(该值会包含线缆两端两个公头的电阻,这恰好是实际使用中最真实的端到端电阻)。 为了结果更准确,可以轻微晃动夹子,取一个稳定的中间值,或者多次测量后取平均值。
第四步:测量GND及其他线路 测量完VBUS后,用完全相同的方法,将两个开尔文夹分别移动到线缆两端转接板上的 GND 焊盘,就可以测得GND线路的内阻。 同理,你还可以测量D+、D-等数据线的内阻。 结果解读与总结通过这个精确的内阻值,你就可以非常直观地对比不同线缆的用料和性能了。 - 内阻越低,线材越“粗壮”,用料越好。
- 内阻越低,在进行大功率快充时,线上的电压降就越小,能量损耗也越低,最终到达手机端的电压和功率就越高,充电效率和速度更有保障!
好了,今天的硬核教程就到这里,希望对大家有所帮助!快去动手试试,看看你的“传家宝”线缆到底有多牛!欢迎大家在评论区跟帖,分享你的测试结果和心得!
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