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[Other] 请教一些RDT的相关问题

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发表于 2025-6-3 16:49:07 | 显示全部楼层 |阅读模式

爱科技、爱创意、爱折腾、爱极致,我们都是技术控

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1、RDT的时候设置1圈和多圈有什么区别?

2、RDT的时候ECC bits设置的数字低严格筛选出再进行开卡的固态能证明什么,是稳定还是速度快还是寿命长
3、RDT的时候ECC bits设定为不同的梯级比如 【20 50】【15 35】,在RDT的过程中是怎么进行工作的
这个梯级意思是【在某个块block写入校验数据,只要这个数据错误数>设定的bits数就把整个快标记成坏块这个意思吗】
4、按照20 50这个设定跑完RDT开卡成功后,比如在某个block中的某个位置ECC校验的时候非SLC模拟bit错误大于0小于50比特,这个块则不会被标记成坏块,那么问题来了:【在日常使用过程中读写到这个位置的时候数据不会出错吗?】
发表于 2025-6-3 19:26:31 | 显示全部楼层
1 多圈跑出来的坏块更准确
2 rdt结果的ecc越低说明颗粒体质越好
4 有纠错
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 楼主| 发表于 2025-6-4 17:19:09 | 显示全部楼层
17317371958 发表于 2025-6-3 19:26
1 多圈跑出来的坏块更准确
2 rdt结果的ecc越低说明颗粒体质越好
4 有纠错

所有的固态在日常使用的过程中有纠错会有把错误的数据纠正成正确数据的功能吗,那我这样理解不用RDT的固态也没问题也完全可以正常使用,并不会在日常使用过程中因为没有跑RDT而导致数据丢失。
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发表于 2025-6-6 00:04:14 | 显示全部楼层
a2985913099 发表于 2025-6-4 17:19
所有的固态在日常使用的过程中有纠错会有把错误的数据纠正成正确数据的功能吗,那我这样理解不用RDT的固 ...

但是固态主控把错误的数据纠正成正确数据的能力是有限的,且错误数据越多,读取越慢,也越耗电;
RDT就是把那些容易产生错误数据的块标记成坏块剔除掉不用
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