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[Other] 请教高手:怎样鉴别拆机闪存品质的优劣?挑选品质优良的做ssd

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发表于 2019-5-24 22:20:49 | 显示全部楼层 |阅读模式

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怎样鉴别拆机闪存品质的优劣?挑选品质优良的做ssd。
1.同型号颗粒,通过903慢扫,或者rdt,选相同ecc数值,比较坏块数量,坏块少的品质更好?
2.逐渐减小ecc数值,如果坏块不出现爆发性增多,还能过量产。哪片闪存能过更小的ecc,哪片的品质更好?
3.903和2246 能容忍的最大坏块数是多少个?超过这一数值就不能量产了
4.903和2246默认情况开卡,分别相当于ecc选多少数值?
发表于 2019-5-26 10:35:49 | 显示全部楼层
1,ECC扫描方式只能筛选出新增坏快和高ECC的老化块,实际漏电较快块是扫描不出来的、
简单打个比方:
某些intel的L06B和B16A制程的颗粒,再被拆下后能过2246EN 2258XT的RDT均显示只有原厂坏块无新增,当开卡好写入校验数据后隔10分钟再读取都没有问题、但是当这两个盘静置90天(约30度)和360天(广东气候),再读取校验数据时,就会看到有数据读取错误,并且B16A制程基本是全红进度条、
然后再重新开卡,写满校验数据,静置10分钟读取结果数据OK,然后放入恒温箱,设定温度150摄氏度,加热并保持150摄氏度48小时,(模拟自然放置2 years的漏电效果)然后降温,温度下降斜率3°/min,当温度下降到30度时,再读取校验数据,此时两个盘都基本都已经不能加载闪存内的ISP,闪存内容基本已经丢失、
2,RDT要在高温环境下做,起码温度3位数,常温下RDT是没什么用的,
3,挑选品质优良的闪存,要原厂才能测、(抓新增坏块这么简单谁不会?抓漏电块才是难度)

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我也发现这个问题,有的盘也只能装满了数据放置半年后做RDT,其实漏电块也很好判断,基本就是那些开卡后降速的块,你想想嘛,开卡后慢扫描有些块都在降速,就说明那片区域启动比其他趋于更高的ECC效验级别,产生更多  详情 回复 发表于 2019-6-19 15:26
不同厂家的实验方法应该都是不一样的,我们收到厂家的测试报告中,没有使用这么高的模拟温度 我看了下其中一个报告,静止存放是(3). Set the temperature of chamber : 100℃, and the test time is 96Hrs .(设置  详情 回复 发表于 2019-5-26 10:58

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发表于 2019-5-26 10:58:07 | 显示全部楼层
技术宅小唐 发表于 2019-5-26 10:35
1,ECC扫描方式只能筛选出新增坏快和高ECC的老化块,实际漏电较快块是扫描不出来的、
简单打个比方:
某些i ...

不同厂家的实验方法应该都是不一样的,我们收到厂家的测试报告中,没有使用这么高的模拟温度

我看了下其中一个报告,静止存放是(3). Set the temperature of chamber : 100℃, and the test time is 96Hrs .(设置温度为100摄氏度,模拟放置96个小时)。相当于43度条件下放置3年的效果

不过不管什么实验室,什么设备,什么测试条件,都是实验条件,客户使用条件天南地北,更加复杂。不同的主机设备(如:NB、DT、MobileDevice),不同的供电条件(如:电压高低、纹波)、不同的温度环境、不同的湿度环境等等

还有就是报告里面RDT不是高温条件下,至少不是你说的3位数的高温,这个超出了颗粒正常的工作温度。但是室温到颗粒的极限温度是有可能的,目前报告里面说的是以室温55度,测试1000小时

不过我说的RDT,和我们正常开卡说的RDT是不同的。我们正常的RDT只是为了尽量筛选出有问题的块,厂家的是为了测试颗粒的极限寿命。不过就算个人RDT,也没必要太高温进行

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SF2281老化105度  详情 回复 发表于 2019-5-27 22:29

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 楼主| 发表于 2019-5-27 21:34:32 | 显示全部楼层
技术宅小唐 发表于 2019-5-26 10:35
1,ECC扫描方式只能筛选出新增坏快和高ECC的老化块,实际漏电较快块是扫描不出来的、
简单打个比方:
某些i ...

感谢小唐的详细解答
 楼主| 发表于 2019-5-27 21:36:22 | 显示全部楼层
futurestar 发表于 2019-5-26 10:58
不同厂家的实验方法应该都是不一样的,我们收到厂家的测试报告中,没有使用这么高的模拟温度

我看了下其 ...

谢谢您的专业回复,RDT时颗粒的温度很高80-90度了,我是加个风扇降温

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RDT说的温度是室温,不是颗粒、主控的温度 要达到55度的室温都得实验设备  详情 回复 发表于 2019-5-27 22:00
 楼主| 发表于 2019-5-27 21:43:22 | 显示全部楼层
这样看来,固态硬盘还是买厂家生产的比较放心。
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发表于 2019-5-27 22:00:30 | 显示全部楼层
zxc000ly 发表于 2019-5-27 21:36
谢谢您的专业回复,RDT时颗粒的温度很高80-90度了,我是加个风扇降温

RDT说的温度是室温,不是颗粒、主控的温度

要达到55度的室温都得实验设备


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别人这样做,是以老化的温度换时间(空间换时间),其实你也不用高温,装满数据放置个半年,就会有漏电坏块无法通过主控过滤掉,然后再重新开卡做RDT,基本原理就是该漏电不稳的放电也放了,通过RDT标记过滤。  详情 回复 发表于 2019-6-19 15:30
发表于 2019-5-27 22:29:02 | 显示全部楼层
futurestar 发表于 2019-5-26 10:58
不同厂家的实验方法应该都是不一样的,我们收到厂家的测试报告中,没有使用这么高的模拟温度

我看了下其 ...

SF2281老化105度

点评

我之前就不认为2281的ECC校验能力强就是好事!就像人一样太老了,天天拖进ICU不是插管就是上呼吸机!这样的SSD还有意义吗?见过有些用垃圾颗粒的2281降速到个位M,三天两头掉盘的,而且ECC效验次数是天文数字,这样  详情 回复 发表于 2019-6-19 15:53
企业级SSD才会用这么苛刻的方式来进行,但是同等的测试时间就会反比缩短 对于消费端的SSD,不会用这么高温跑RDT测试的 JESD有测试规范标准,厂商几乎都是按照这些来测试 我们要这些类似的报告都得花钱,默认是不  详情 回复 发表于 2019-5-27 23:21
发表于 2019-5-27 23:21:08 | 显示全部楼层

企业级SSD才会用这么苛刻的方式来进行,但是同等的测试时间就会反比缩短

对于消费端的SSD,不会用这么高温跑RDT测试的

JESD有测试规范标准,厂商几乎都是按照这些来测试

我们要这些类似的报告都得花钱,默认是不提供的(当然一些简单的报告不需要)。有些时候招投标就是要提供很多报告,得花钱
发表于 2019-6-19 07:11:51 | 显示全部楼层
厂家测试看来很严格。
发表于 2019-6-19 15:26:45 | 显示全部楼层
技术宅小唐 发表于 2019-5-26 10:35
1,ECC扫描方式只能筛选出新增坏快和高ECC的老化块,实际漏电较快块是扫描不出来的、
简单打个比方:
某些i ...

我也发现这个问题,有的盘也只能装满了数据放置半年后做RDT,其实漏电块也很好判断,基本就是那些开卡后降速的块,你想想嘛,开卡后慢扫描有些块都在降速,就说明那片区域启动比其他趋于更高的ECC效验级别,产生更多延时,所以才降速!当这个降速无穷大,不就是漏电完的坏块吗?就像一块充电电池因为老化充不满,放电也不均匀。

所以要判断拆机颗粒谁比较健壮,能慢扫一根直线的是比较健壮的,我通常用hdtune的慢扫,点击速度图,淘到颜色深绿的就欢喜,淘到有点黄的就想办法出掉。
发表于 2019-6-19 15:30:53 | 显示全部楼层
futurestar 发表于 2019-5-27 22:00
RDT说的温度是室温,不是颗粒、主控的温度

要达到55度的室温都得实验设备

别人这样做,是以老化的温度换时间(空间换时间),其实你也不用高温,装满数据放置个半年,就会有漏电坏块无法通过主控过滤掉,然后再重新开卡做RDT,基本原理就是该漏电不稳的放电也放了,通过RDT标记过滤。
发表于 2019-6-19 15:40:08 | 显示全部楼层
影响SSD品质最大的问题不是坏块多少!而是即将老化成坏块的多少,这其中最不稳的就是漏电块,初期特征就是降速幅度大,或者读写的速度起伏比较大,像锯齿状的多数不妙!!!颗粒漏电是一个慢过程,通过加温其实就是让漏电颗粒加速现原形,就好比一个快要坏的锂电池给高温、或者低温测试就是为了放大它不稳的状态,加以判断它合格不合格。
发表于 2019-6-19 15:53:32 | 显示全部楼层

我之前就不认为2281的ECC校验能力强就是好事!就像人一样太老了,天天拖进ICU不是插管就是上呼吸机!这样的SSD还有意义吗?见过有些用垃圾颗粒的2281降速到个位M,三天两头掉盘的,而且ECC效验次数是天文数字,这样的SSD就像到死不活地拖着。相反ECC效验粗放的主控,可能把那些到死不活的块标记成尸体块了。所以LDPC看似更“香浓”,但是遇到颗粒老化不行了,就降速得相当痛苦,卡成翔
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