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[闪存] 针对现在的nand量产时候ecc开多少比较好?

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发表于 2020-5-23 22:38:38 | 显示全部楼层 |阅读模式

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现在遍地tlc的时代.开tlc一般情况多少呢?
在能不丢数据又能尽量多开一点的需求下.
我以前开的都选择的ecc=8,不知道有没有风险
发表于 2020-5-23 23:33:21 | 显示全部楼层
TLC漏电,实际上你开1都会漏,在几乎没有纠错能力的U盘主控里,漏电就意味着GG,无解,注意是无解
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 楼主| 发表于 2020-5-24 22:15:32 | 显示全部楼层
技术宅小唐 发表于 2020-5-23 23:33
TLC漏电,实际上你开1都会漏,在几乎没有纠错能力的U盘主控里,漏电就意味着GG,无解,注意是无解 ...

稳妥一点的话的一般开多少合适?
从一开始就没想着开eec=0.
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发表于 2020-5-25 11:09:21 | 显示全部楼层
adsl_95 发表于 2020-5-24 22:15
稳妥一点的话的一般开多少合适?
从一开始就没想着开eec=0.

看个人  2 4 6 8 随便你
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发表于 2020-5-25 12:40:21 | 显示全部楼层
这个是扫描坏块的ecc,不是实际运行时候的ecc吧
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发表于 2020-5-27 09:47:28 | 显示全部楼层
winnercong 发表于 2020-5-25 12:40
这个是扫描坏块的ecc,不是实际运行时候的ecc吧

不清楚诶,我也想知道量产时候的ECC设定会不会影响实际运行时候的校验纠错
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 楼主| 发表于 2020-5-29 15:11:58 | 显示全部楼层
技术宅小唐 发表于 2020-5-25 11:09
看个人  2 4 6 8 随便你

因为我看银灿的官方说明pdf里面写的ecc=0最严格,ecc=4最不严格可能有风险.那么后面ecc=5-15那些怎么办呢..........
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发表于 2020-5-29 15:51:18 | 显示全部楼层
adsl_95 发表于 2020-5-29 15:11
因为我看银灿的官方说明pdf里面写的ecc=0最严格,ecc=4最不严格可能有风险.那么后面ecc=5-15那些怎么办呢. ...

ECC只能作为一个参考,0-4作为严格,5-8作为一般,8以后就是宽松

如果ECC太小了,体质较差的闪存开出来容量太小,ECC太高了就没办法筛选坏块
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 楼主| 发表于 2020-6-8 14:12:44 | 显示全部楼层
技术宅小唐 发表于 2020-5-29 15:51
ECC只能作为一个参考,0-4作为严格,5-8作为一般,8以后就是宽松

如果ECC太小了,体质较差的闪存开出来 ...

其实我迷惑的点就在这.
我是is918+闪迪黑片.
都用的容量优先.用2+8开出的容量居然不如2+3开出来的多.
这东西这么玄学的?
我用2+8开出来62300m.用2+3开出来66000m...........
因为颠覆认知才开贴问问
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发表于 2020-6-9 09:38:33 | 显示全部楼层
903开ECC没一次成功,楼主如何设置的?
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发表于 2020-10-3 03:01:29 | 显示全部楼层
技术宅小唐 发表于 2020-5-23 23:33
TLC漏电,实际上你开1都会漏,在几乎没有纠错能力的U盘主控里,漏电就意味着GG,无解,注意是无解 ...

ecc只是量产的时候筛选块的质量,和主控的纠错能力无关
比如低格扫描时,ecc开0,写入数据后再校验,没发生错误的就当做好的块。ecc开1,写入后校验,允许发生1位的错误,主控可纠正,这些被当做好的块,超过1位错误的块都当做坏块屏蔽。主控一般都有几十位的纠错能力,ecc开多少都不会影响到
我的理解是这样
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发表于 2020-10-3 20:08:42 | 显示全部楼层
duohaiou 发表于 2020-10-3 03:01
ecc只是量产的时候筛选块的质量,和主控的纠错能力无关
比如低格扫描时,ecc开0,写入数据后再校验,没发 ...

U盘主控基本没有纠错能力,晶圆就那么点面积,怎么可能有几十位的ECC?
U盘筛ECC块都是要依靠MP工具基础上,不然直接高格就完了,还费那么多时间低格干嘛、

而且有不少开低格以后, 跑圈还是不过、
另外就是漏电不是马上发生的,NAND时间一长就漏电,而SSD的RDT之类是利用高温加速电荷流失模拟长时间自然环境下,这样才能抓ECC漏电块、
低格工具那都是闹着玩
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发表于 2020-10-15 20:17:56 | 显示全部楼层
技术宅小唐 发表于 2020-10-3 20:08
U盘主控基本没有纠错能力,晶圆就那么点面积,怎么可能有几十位的ECC?
U盘筛ECC块都是要依靠MP工具基础 ...



你看这个主控的资料,43bit/1KB代表每1KB数据发生43bit以内的错误能被纠正,对不对?这个是实际使用中具有的纠错能力,是固定的,不受量产软件中ECC选项的影响。
量产软件中的ECC选项,只在量产中筛选坏块时用到,如ECC选1时,当一个块发生1字节(8bit)以上的错误,这个块就被屏蔽不使用,量产软件会逐个扫描所有的块,筛选出所有符合条件的好块。
是不是这样

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发表于 2020-11-14 16:53:15 | 显示全部楼层
技术宅小唐 发表于 2020-10-3 20:08
U盘主控基本没有纠错能力,晶圆就那么点面积,怎么可能有几十位的ECC?
U盘筛ECC块都是要依靠MP工具基础 ...
SD的RDT之类是利用高温加速电荷流失模拟长时间自然环境下,这样才能抓ECC漏电块

这么说 RDT包括跑圈都不该散热?(固态U盘)
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发表于 2022-9-8 00:56:49 | 显示全部楼层
技术宅小唐 发表于 2020-5-29 15:51
ECC只能作为一个参考,0-4作为严格,5-8作为一般,8以后就是宽松

如果ECC太小了,体质较差的闪存开出来 ...

ECC太小了不是跑RDT失败吗?还能开小容量?求科普一下
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