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[SMI] 原来 N1114 版本的 SM2246EN 固件确实磨损不均

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发表于 2024-6-11 22:40:52 | 显示全部楼层 |阅读模式
收了一个 mSATA 的 SM2246EN 板子

上面两颗 F01T08OCMFP 在主控面两个焊盘上

拆下颗粒的板子图





每个焊盘都支持 8CE

拆之前连接电脑,读出 SMART 看到固件版本是 N1114H
05 是 4A
C3 是 7F

无法正常使用

于是拆下贴到 SM2246XT 中长绿板上
开卡 显示 TrainADJDecFClk_FAIL_3DD
忽略ADJ
开卡通过

RDT ECC 设置成 15
跑完 RDT 结果如图




其中一个 CE 坏块爆表
原来这就是群友说的,旧版固件磨损不均问题吧
跟 JMF 系列类似

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发表于 2024-6-12 00:12:12 | 显示全部楼层
第一次听说,很多二手什么工控品质的msata好像用的就是这个固件
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发表于 2024-6-12 08:08:03 来自手机浏览器 | 显示全部楼层
刷这个n1114h用过一段时间,  感觉c3增加的很少。   
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发表于 2024-6-12 08:26:14 | 显示全部楼层

学习中,谢谢楼主
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发表于 2024-6-12 08:39:55 | 显示全部楼层
N版本工具给人一种没开发完的感觉,RDT 只能抓128个坏块,后面我基本上就是用的R版本固件了,速度慢点是慢点,稳当一些
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发表于 2024-6-12 08:59:58 | 显示全部楼层
仅看一片不能概全吧,也许是个案呢
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发表于 2024-6-12 09:28:30 | 显示全部楼层
其中一个 CE 坏块爆表,只能疑似旧版固件磨损不均
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发表于 2024-6-12 10:24:38 | 显示全部楼层
有可能是个别案例吧
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发表于 2024-6-12 11:30:54 来自手机浏览器 | 显示全部楼层
本来就是拆机颗粒。有的颗粒好,有的颗粒接近报废,,跟磨损平衡有何关系?
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发表于 2024-6-12 11:55:28 | 显示全部楼层
有没有可能是颗粒的问题?
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发表于 2024-6-12 14:35:06 来自手机浏览器 | 显示全部楼层
手上也有几个颗粒类似这种情况,某一ce坏块多的离谱,剩下几个ce跟没磨损一样
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发表于 2024-6-12 15:22:37 | 显示全部楼层
这玩意有啥说法不,去年拼的一个1T的自用,有大神分析一下这个盘不?

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发表于 2024-6-12 16:29:20 | 显示全部楼层
这个是爆die 了。物理损坏
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 楼主| 发表于 2024-6-12 20:57:21 来自手机浏览器 | 显示全部楼层
笑着无奈 发表于 2024-6-12 16:29
这个是爆die 了。物理损坏

查了ID ,块数是2096
而 RDT 坏块是 1000多
怎么判断是 die 损坏
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发表于 2024-6-12 22:07:35 | 显示全部楼层
这种情况有时碰到。。。。
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发表于 2024-6-13 10:15:41 | 显示全部楼层
walkingsk 发表于 2024-6-12 20:57
查了ID ,块数是2096
而 RDT 坏块是 1000多
怎么判断是 die 损坏

那就是损坏了一半。跟磨损没关系,颗粒受伤了
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发表于 2024-7-13 11:21:49 来自手机浏览器 | 显示全部楼层
wanqiou 发表于 2024-6-12 15:22
这玩意有啥说法不,去年拼的一个1T的自用,有大神分析一下这个盘不?

自己跑一下rdt看一下体质不就知道了。
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 楼主| 发表于 2024-7-19 13:54:11 来自手机浏览器 | 显示全部楼层
wanqiou 发表于 2024-6-12 15:22
这玩意有啥说法不,去年拼的一个1T的自用,有大神分析一下这个盘不?

固件版本被改过
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发表于 2024-7-19 13:59:32 | 显示全部楼层
学习中,谢谢楼主,会不会是颗粒的问题呀
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发表于 2024-7-19 14:34:38 | 显示全部楼层
磨损平衡这玩意只能自己找全新闪存或者已知坏块的闪存做测试,通过坏块增量控制变量来实验,测试还需要同一测试模型,没有这些条件天知道这固态在到你手上曾经经历过啥,不过我个人很肤浅的认知是P固件之前的版本都有点跑得快死得快的意思,O还是P以后某个版本就开始限速了,但是使用寿命变长了,开卡反而更能接受那种特别烂的片子了
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