4054,4056充电芯片输入过压保护阈值的重要性

KKW117

我们都知道USB热拔插会产生浪涌和瞬间的尖峰电压。同时我们经收集工厂对市面上多家品牌常规充电芯片的反馈收集，我们会发现有2-5‰左右的不良，经过对芯片进行收集，开盖，研究，分析，收集到其中约50%是在瞬间尖峰电压过高导致超过芯片极限耐压，过高的电压把芯片内部打损坏。

在此没有过压保护OVP芯片（如下图产品）出来前，差不多在快充充电器兴起之前。我们一般对于浪涌尖峰的处理方式大概有三种：

1， 正极加串电阻的方式，适合小电流，大电流会损耗电压值和效率，同时电流大时，电阻本身温度也会高，优点小，方便，缺点：适合500mA左右电流以下

2， 加电解电容，电解电容的有较高的ESR等效串联电阻来吸收，有的人说陶瓷贴片电容也有，但是ESR低，起不到好的效果。优点成本低廉，缺点电容高度，放不下对体积有要求的产品，有不少局限性

3， 加TVS管

4， 加OVP过压保护芯片

平芯微同步推出了众多规格的过压OVP保护芯片，和增加了可调限流OCP+过压OCP二合一的保护芯片，满足很多场景需求。

在手机快充越来越多，基本知名品牌都把快充做新手机标配了，市面上快充充电器（5V,9V,12V,20V）也越来越多，我们知道产品都会被市场引导区分出中高低三种品质充电器出来。刚好在TWS耳机兴起的时候，过压保护OVP芯片才得到了重要，市场数量大幅度增加，耳机因为放在耳朵旁，距离人体脆弱的器官都太近，需要更好的保护。再加之国外客户很早就意识到了快充充电器万一损坏带来的危险，需要增加过压保护OVP芯片等等综合考虑。

平芯微也早早推出了集成OVP芯片+4056充电管理的单节锂电池充电芯片PW4056H，

也根据市场需求推出了集成输入耐压28V，6.8V的OVP过压保护和BAT脚耐压提高到20V的系列高品质，高双耐压产品单节锂电池充电芯片，PW4056HH(ESOP8封装，)，PW4057H（SOT23-6封装），PW4054H（SOT23-5封装）

1， 常见小电池几百mAH的我们一般根据LED灯指示选择有4054和4057,SOT23-5和SOT23-6的线性充电IC，平芯微的PW4054H和PW4057H在品质和可靠性尤为突出，具有输入OVP过压6.5V关闭充电，输入同时可以抗28V耐压，及时快充充电器误输入9V,12V也能不会损坏，正常没有这个功能的芯片，在如今快充充电器普及很高的环境下，PW4054H和PW4057H在高端电子产品具有很高位置。

2， 电池1000-2000mah一般也有客户任然选择线性充电，但是选择具有更高电流的4056，最高1A，。4054,4056因为是线性充电，具有很强，简洁，容易的电路设计很受大家喜欢。在4056中，PW4056HH具备了输入OVP过压保护时，还具有电池耐高压20V保护，这个20V耐压很多人不理解，认为锂电池4.2V，

为什么需要20V耐压呢？

实际在电源领域，我们需要使用示波器和熟悉掌握才能在电源行业理解和分析。当锂电池再重负载放电时，如果突然的断开，会产生瞬间的浪涌电流和瞬间尖峰电压，这个瞬间的尖峰电压可能会达到6V,8V等，没有固定性，足够高的耐压，才能很多的面对不对情况下的应用环节和场景。

值得好的是，PW4054H和PW4057H，PW4056HH都是具有输入和输出高耐压的充电IC了。