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[Other] 三星第 6 代 V-NAND(128 层 TLC)爆 0E灾难的启示

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发表于 1 小时前 | 显示全部楼层 |阅读模式

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别追新,即使像三星这样的半导体大厂,闪存颗粒一样暴雷
这一代三星 128 层 V-NAND 本身有原生缺陷,很多人拿SSV6  DIY 开卡、买二手 PM9A1,0E 疯狂飙升,数据随时会丢、盘随时暴毙,坑了一大批玩家

这不是主控固件问题,升级估计也无济于事。因为它不是简单的固件小 bug(刷固件就能修好),是 NAND 单元电荷保持的硬件工艺缺陷;前期短期压力测试、出厂筛选都没抓到这个长期静置 / 老化才显现的问题

闪存颗粒 / 制程本身硬件缺陷(工艺翻车,根治不了)新架构、新层数的 NAND(三星 SSV6 初代、部分第一代 QLC),缺陷是刻在闪存物理结构上的。它的失效触发条件很慢:需要几百上千小时通电、断电静置、温度循环,短期实验室测试很难复现。 这类坑,等一年也未必能躲开,只是一年后社区里慢慢出现大量用户反馈,你才知道它翻车了

三星善后是,在官方保修期内、有 0E 报错、出现不稳定 / 掉盘,可以申请换新盘;但是没有大规模主动召回,不是统一喊大家全部退回。

Intel 13/14 代 K 系 “缩肛(Vmin Shift)” 事件也是设计在娘胎里就有问题

越用越不稳、蓝屏、渲染闪退,Ring 总线长期高压造成电路不可逆老化衰减,也就是俗称缩肛

intel善后,盒装受影响型号额外延长 2 年保修,最长到 5 年保;只要出现对应不稳定故障,凭购买凭证走 RMA 换新步进修复版 CPU(新步进已经修改设计,消除这个弱点)散片 CPU:Intel 官方不保修

台积电代工只保证晶圆工艺指标,客户的电路架构、电压策略、闪存单元设计,风险是芯片设计方自己扛。台积电能把工艺做到行业顶尖,但不等于 “零未知 bug”,英伟达显卡新GPU也有发生故障的可能

最后,大家说如何避坑?

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