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[慧荣] DIY的64G sm3281主控u盘跑了170圈,相当于写了9T多的数据,能否强过品牌货的...

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发表于 2024-7-7 21:13:52 | 显示全部楼层 |阅读模式
近日在B站小飞机的视频看多了,对DIY U盘产生了浓厚的兴趣,然后花几百大洋买了热风枪焊台及各种制作U盘的工具和材料,由于自己没有颗粒所以在某海鲜市场淘了几片采用MLC颗粒的坏固态


第一次使用热风枪拆焊颗粒,以为需要多次练习才能熟练,特选了一个32G的颗粒用来练手,拆下颗粒、拖平颗粒上的锡,重新植球,再焊接在主控板上,一次成功,拆焊颗粒竟然如此简单,直接就做好了几个U盘,量产成功后测了一下速度,还算满意读都能上250M ,写就有点奇怪了,同样64G同型号的颗粒竟然是两种速度,一种为读300M  写100M,另一种为读250M 写75M,请教各位大佬这是什么原因?

U盘算是制作成功了,却让我焦虑的是这些U盘虽然都是MLC的颗粒,但毕竟都是人家的坏盘拆的,在坏之前写入了多少数据量很多都无法得知,所以这些U盘的寿命及稳定可靠性也是未知数,于是我产生了一个想法,就是拿出一个64G的u盘来做跑圈测试,打算一共测试200圈,如果200圈之后还能正常写入数据并且效验全部通过话,是否意味着这些U盘性能是可靠的,不用担心数据安全,毕竟200圈就是11T多写入量,相当于普通用户电脑硬盘3年的使用量,我也不知道这样想法是否正确,还请大佬指点

跑到50圈的时候写入开始降速了,退出跑圈,让它休息5分钟继续.....

之后跑了10圈左右速度依旧在降,我用手摸主控是否过热的时候掉盘,重新拔插U盘继续跑,写入速度已经降到40多M,在22圈的效验途中自己掉盘,用量产工具查看没有新增坏快,于是把U盘低级格式化了一遍,速度恢复正常,继续跑圈....

之后又跑了一个30圈,速度正常,再跑50圈虽然数据效验都能通过,但平均速度已经降到40多M,我看了在写入的时候出现很大的波动,有时候会出现几M到10几M的速度,有时候又恢复正常,所以才拉低平均速度,我又查了一下没有新增坏块,我感觉是否又需要低格化一遍,然后我又测试往里面拷贝大文件,前两次速度波动有点大,后来又拷贝了一个56G的大文件,速度竟然恢复正常,没有大波动了,这是咋个回事,有知道的吗?

到目前为止总计跑了170圈,写入近10T,虽然中途数据写入出现大的波动,也掉过两次盘,但现在数据正常写入,效验也能完全通过,这U盘是否达到了品牌厂商用tlc或者qlc大黑片所做的U盘品质呢

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发表于 2024-7-7 21:43:29 | 显示全部楼层
不懂,不过我觉得每个颗粒体质都不一样吧?

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发表于 2024-7-7 21:50:03 | 显示全部楼层
你用电脑,慢速格式化一下,速度会更快一些,达到芯片最大数值

我的理解是这样的
芯片是房子,里面塞满了数据,就塞满了杂物
快速格式化的意思是,里面东西随意电脑处置,不着急,用多少清多少,所以电脑储存时候,先清理,在把数据写进去,所以速度偏慢
慢速格式化的意思是,里面给我清干净,一尘不染,下次存东西就随便放,反正房间空荡荡,道路通畅,所以速度嗷嗷的

反正我的理解就是这样的,不知道对不对
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发表于 2024-7-7 22:12:51 | 显示全部楼层
楼上讲的正确,就是这样的
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发表于 2024-7-7 22:15:03 | 显示全部楼层
可以存满测试数据,放太阳下暴晒,闪存片是黑色的吸热,温度应该会升高,持续几天,再静置一周,再校验数据完整性,能过说明数据保持能力还行,漏电不明显,能用
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发表于 2024-7-7 22:16:52 来自手机浏览器 | 显示全部楼层
基本上颗粒芯片都是按写入数据量评价寿命的,你这样一直写,估计芯片寿命所剩无几
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 楼主| 发表于 2024-7-7 22:27:00 | 显示全部楼层
西林迷 发表于 2024-7-7 21:50
你用电脑,慢速格式化一下,速度会更快一些,达到芯片最大数值

我的理解是这样的

嗯,你这比喻很恰当,现在我就想知道我已经跑了170圈,这是否能说明U盘的品质和可靠性已经过关呢?
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 楼主| 发表于 2024-7-7 22:36:48 | 显示全部楼层
fangyinghh 发表于 2024-7-7 22:15
可以存满测试数据,放太阳下暴晒,闪存片是黑色的吸热,温度应该会升高,持续几天,再静置一周,再校验数据 ...

这段时间天气不好,一会太阳一会下雨的,这种实验不好做,我看B站小飞机是在热炉上烘烤做老化实验,我没那个工具,能否用热风枪加热芯片来做老化测试呢,如果可行,那热风枪应该用多少温度呢,和加热多长时间呢
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 楼主| 发表于 2024-7-7 22:47:30 | 显示全部楼层
dingjunjie2016 发表于 2024-7-7 22:16
基本上颗粒芯片都是按写入数据量评价寿命的,你这样一直写,估计芯片寿命所剩无几 ...

我这样写也是为了测试U盘寿命,还有如果芯片寿命快达到尽头的时候应该会产生很多坏快吧,但目前看没有一个新增坏块
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发表于 2024-7-8 00:35:20 来自手机浏览器 | 显示全部楼层
这样能证明啥?  这软件就是写入 读取  删除    一直循环  中间没有时间间隔  这跟内存条有啥区别  一直刷新数据   你如何证明数据能保存多久?   一个星期  还是一个月  一年?  
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 楼主| 发表于 2024-7-8 01:17:42 | 显示全部楼层
曾经的拥有 发表于 2024-7-8 00:35
这样能证明啥?  这软件就是写入 读取  删除    一直循环  中间没有时间间隔  这跟内存条有啥区别  一直刷 ...

这至少能证明颗粒寿命吧,毕竟每一次的写入都是对颗粒寿命的消耗,只要颗粒寿命没问题,那后面可以再做模拟数据保存时间的老化测试!
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发表于 2024-7-8 07:34:59 | 显示全部楼层
这些颗粒应该还不错,一般用用没问题
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发表于 2024-7-8 08:19:57 | 显示全部楼层
用用应该没问题
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发表于 2024-7-8 08:20:18 | 显示全部楼层
连续读写测试只能测试出快损坏的块,漏电测不出来。

擦除次数越多漏电越大,数据越是容易挥发。
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发表于 2024-7-8 08:25:34 | 显示全部楼层
这东西,有时也得看运气的吧
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发表于 2024-7-8 08:32:06 | 显示全部楼层
做几个,你自己先用用,存满东西,
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发表于 2024-7-8 08:33:46 | 显示全部楼层
品牌货一般都是用检测不合格的颗粒做的,所以不一定有拆机颗粒好
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发表于 2024-7-8 08:33:46 | 显示全部楼层
跑完圈马上测试没意义,常温下断电1年数据不出错才算通过
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发表于 2024-7-8 08:47:36 | 显示全部楼层
曾经的拥有 发表于 2024-7-8 00:35
这样能证明啥?  这软件就是写入 读取  删除    一直循环  中间没有时间间隔  这跟内存条有啥区别  一直刷 ...

这种测量断电数据丢失需要有老化加速设备,要不然个人不太好测。纠错算法可以解决不少个别单元漏电异常的问题,大面积漏电异常才会丢数据。
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发表于 2024-7-8 09:39:37 | 显示全部楼层
maro168 发表于 2024-7-8 08:33
品牌货一般都是用检测不合格的颗粒做的,所以不一定有拆机颗粒好

普通优盘都是在FLASH产业链的最下游,所有行业挑选剩下的,没法用的就做正品优盘了。不合格的就从垃圾箱救起来做成无牌优盘。
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