Innodisk SATADOM-MV_3ME 32GB电子盘 ID106/JMF606主控开卡图解

kukusyaoran · 发表于 2025-12-13 15:17:21

省流版：用 JMF606 工具开！
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以下是话痨版：

手上有两块 Innodisk SATADOM-MV_3ME 32G 的盘，使用 JMF 主控（未确定具体型号），都是都是问题盘。
先上拆解图（两块盘除出厂时间和使用闪存不同外，外观和主控板相同，下面是其中一块）：

两块盘的 S.M.A.R.T. 信息如下：

使用ismart官方工具查看：

两块盘都是用 Toshiba 19nm MLC 闪存，其中
1 号盘：（出厂时间 2016）闪存使用 6DDK，通电时间 2.5W 小时，写入 310 P/E，故障表现为通电不认盘（长时间通电后再上电有概率认盘并可访问文件）；
2 号盘：（出厂时间 2013）闪存使用 6DDJ，通电时间 2.4W 小时，写入 7729 P/E，故障表现为上电可识别，但长时间无响应，文件系统无法正常访问（在 USB2.0 转接卡下可正常访问）；

先来看 1号盘，故障表现看起来像是冷数据导致的掉固件

使用 JM_Utility 查看名称显示乱码信息

查看固件标志位显示控制器信息为 JMF667

在硬盘能正常被识别的情况下，使用 JM_Utility 同样能查看到固件信息，但是很多信息缺失（这个是后面完整开完卡才确定的），比如闪存信息，坏块，读写次数等等

使用 JMF667 开卡工具，可以识别到硬盘，但是无法识别到对应的闪存信息。

再看 2 号盘：

JM_Utility 查看的固件信息显示使用了 JMF662 控制器

可以查看到其他信息，但是关键的坏块信息依旧缺失，并且闪存写入次数那个表是乱的（因为列表里面 Block 长度明显大于实际，间隔一个 Block 为 0 计数）

在 JMF662 的开卡工具里点击自动可以识别到 6DDj 的闪存，但点击开卡提示“找不到对应的 bin 文件”，这破玩意儿一个配置信息对应一个 bin 文件，比如 4CH1Bank 是一个，2CH1Bank 又是另一个 bin 文件（可能是固件）

到了这里两边其实都已经卡住了，留下的问题有：
- 为什么两个编号相同的控制器（均为 ID106）显示两种不同的固件信息，是因为使用闪存的区别吗？但 6DDK 和 6DDJ 本质上都是东芝 19nm；
- 为什么 JM_Utility 查看到的信息不全或者缺失？是因为固件是官方定制的所以不兼容导致的吗？

然后，我们各种尝试（瞎 J8 乱搞）其中包括：
- 杂交固件：拿其他版本对应配置的 bin 文件过来改个名（doge）直接套用，报错！

- 使用 BinWalk 尝试解包分析固件结构：找不到文件系统标识符，无果！
- 使用 Ghidra/IDA 尝试反编译固件代码：找不到对应的平台架构信息，得不到有效的汇编代码！
- 在板上各种乱戳，尝试找到调试口：切！切！切！有个屁！
…………

直到……偶然间使用了 JMF606 开卡工具：

ROM 模式能识别，闪存信息也有，并且 606 没有各种 bin 配置，只有一个 SYS_S.bin
然后又是各种乱试一通（过程中各种组合可能遇到的报错）：
- (C03) Fail : Def Page Does Not Exist...Number of bad block is over defect ratio
- (J00) Check Tables Fail: Table compare fail. Page #1 is error
- (P03) Check RDT Result Fail
- (E00) R/W Test Fail

当遇到某一个 R/W Test Fail 之后拔掉再重新连接竟然显示容量信息了，那么重新点击 START 呢：

绿色的 PASS 标志出现了，然后我们拔掉重新连接，分区格式化，写入测试，跑圈测试等等均通过了（实际上到了 R/W Test Fail 这步固件已经写入了，由于某些不具名的原因写入读取测试失败了，但这个测试本质上也就测试了个寂寞，即使选择 Erase Search 也是很快就过了，并没有做全盘扫描的动作）

重新开卡后的 S.M.A.R.T. 信息显示

跑圈测试显示结果

使用 JM_Utility 可以正常查看到信息了，包括闪存信息，坏块，Block 写入详细。唯一区别的可能是 UDMA 支持模式显示 mode 5（之前是 mode 6），（切）忽略

当然这是 1 号盘，可以认为是成功重刷固件并且修复了原本固件上电不识别的问题，该盘可能原本写入 P/E 并不多，所以这样开卡后写入测试能通过。

但……对于 2 号盘（原本写入超过 7K P/E），我们采用相同的方式尝试修复发现，固件能刷入，但是在跑圈测试时多出现于第三圈的时候报错（多次尝试结果）：

即使修改开卡容量到 8G 依旧会在跑圈有新增坏块出现，并且固件无法自动屏蔽并替换掉坏块！开卡软件里 Preformat 里有对应 RDT 的选项，但是没有用来跑 RDT 的固件（或者说找不到对应的入口选项），Flash.ini 文件对应的字段除了备用块的相关可以修改，其他参数尝试随便改改均报错无法继续呢～

为了进一步明确颗粒的详细状况，我们把四个颗粒都拆了下来，单个放到 2246EN 测试架上，用 ECC30 的阈值跑了一遍 RDT 测试，结果如下：

测试结果表明 3 号颗粒（板上对应 F3 位置）坏块明显较其他颗粒更多（26个），当然该颗粒在 2246EN 测试架上（参考 RDT 结果）重新开卡后写入跑圈测试均能通过

最后将 2号、4号两个颗粒焊回 2号盘重新开卡（BTW：原厂可能使用中温焊锡，非常好拆）：

这是两个颗粒的跑圈测试

这是两个颗粒在跑圈后的坏块查看。

帖子写的太长了，最后再补充几个图片：

这是这个板子的一些参考点

这是 F3、F4 两个空焊盘位，看走线引出是有 4CE 地址线的，也许可以上 JCNE1 之类的 SLC 颗粒（供电可能是需要考虑的，不过意义不大），另外这个主控似乎没有 R/B 信号线

开卡需要的 JMS20329 转接卡 + SATA 转接板（当然你也可以飞线）

最最后，如果你也需要一个 SATADOM 类似的小体积 SATA 盘给什么软路由类似机器的小空间应用，使用小容量的 SLC 颗粒或许是个不错的选择。无论是从可靠性还是性能而言避免选择 JMF 控制器的（老掉牙）产品，还有注意那些写入时间特别长的盘不要不要的。

好的，那么这两个盘可以垃圾桶的干活了。

祝大家玩机（折腾）愉快！

相关阅读：Innodisk 3ME3固态硬盘 JMF608/ID108主控+7DDL颗粒重新开卡

补充内容 (2026-2-27 21:29):
勘误：修正电压标识；新增 VCCFQ 3.3V 跳线
https://www.mydigit.cn/forum.php ... 72&pid=18999691