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[其他] 给两个坏的芯片脱壳打开大脑看看,分析一下芯片内部

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发表于 2026-1-21 12:56:39 来自手机浏览器 | 显示全部楼层 |阅读模式
打开芯片,我们能够更直观地观察芯片内部结构,并利用光学显微镜OM等设备分析判断样品的故障原因和失效的可能原因。能够直接观察和分析芯片的各种元件和连接,这对于准确判断故障点非常关键。为通过仔细观察封装焊点、打线连接以及封装缺陷等细节,也是逆向工程的一种有效手段,可以通过晶元上的厂商型号标识用以分析打磨芯片的型号

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发表于 2026-1-21 14:22:52 | 显示全部楼层
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发表于 2026-1-21 14:27:19 | 显示全部楼层
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 楼主| 发表于 2026-1-21 18:10:01 来自手机浏览器 | 显示全部楼层
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 楼主| 发表于 2026-1-21 18:12:37 来自手机浏览器 | 显示全部楼层
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 楼主| 发表于 2026-1-21 18:13:29 来自手机浏览器 | 显示全部楼层
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 楼主| 发表于 2026-1-21 19:08:28 来自手机浏览器 | 显示全部楼层
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发表于 2026-1-21 19:29:56 | 显示全部楼层
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发表于 2026-1-21 19:46:24 来自手机浏览器 | 显示全部楼层
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发表于 2026-1-21 19:47:52 | 显示全部楼层
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发表于 2026-1-21 19:52:13 | 显示全部楼层
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